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龙图腾网获悉中国振华集团云科电子有限公司申请的专利一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223461654U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422579555.8，技术领域涉及：G01R31/01；该实用新型一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置是由魏栩曼;王聪玲设计研发完成，并于2024-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置在说明书摘要公布了：一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置，属于电子元器件生产技术领域。包括：包括底架、Z轴探针机构、下部探针机构、运动调节机构。所述底架包括底板、测试底座、支撑杆，产品座制作于测试底座的顶面；Z轴探针机构包括Z轴滑轨、滑块、压板、探针连接座、立柱、限位块、上部探针、拉簧、探针座转接印制电路板，上部探针通过连接座上的孔进行定位安装；下部探针机构位于产品座中心位置下方，下部探针转接印制电路板中心焊接有弹性探针，下部弹性探针与上部探针处于同心位置；运动调节机构包括立柱、拉簧，拉簧位于立柱的两侧。解决了现有测试技术准确性差、效率低、可重复性差的问题。广泛应用于双面焊盘制程产品批生产工艺测试技术中。

本实用新型一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置在权利要求书中公布了：1.一种用于芯片电容批次生产前样品容值的测试装置，其特征在于：包括底架1、Z轴探针机构2、下部探针机构3、运动调节机构4； 所述底架1包括底板5、测试底座6、支撑杆，在底板5、测试底座6上设有一一对应的支撑杆螺丝孔7，测试底座6与底板5之间为支撑杆，支撑杆与测试底座6、底板5为螺丝固定；产品座8制作于测试底座6的顶面； 所述Z轴探针机构2包括Z轴滑轨9、滑块10、压板11、探针连接座12、立柱13、限位块14、上部探针15、拉簧16、探针座转接印制电路板17，滑块10与Z轴滑轨9相匹配；探针连接座12通过螺丝固定在滑块10上；探针连接座12设有探针孔18，用于上部探针15的安装，并设有探针座螺丝孔19，探针座转接印制电路板17通过探针座螺丝孔19安装固定；上部探针15通过连接座上的孔进行定位安装，并通过焊接在印制电路板上进行测试信号的转接；探针座转接印制电路板17通过螺丝与连接座进行固定，Z轴探针转接头20连接相应的线缆，通过线缆与相应的仪表或电源连接； 所述下部探针机构3主要定位于产品座8中心位置下方，下部探针转接印制电路板21通过螺丝固定在对应产品座8的孔位上，下部探针转接印制电路板21中心焊接有弹性探针22，下部弹性探针与上部探针处于同心位置，下部探针转接印制电路板21设有下部探针转接测试接头23，与测试线缆连接； 所述运动调节机构4包括立柱13、拉簧16，拉簧16位于立柱13的两侧。

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