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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种处理数据的方法、装置以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113990364B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111253817.6，技术领域涉及：G11C11/02；该发明授权一种处理数据的方法、装置以及存储介质是由马祥跃设计研发完成，并于2021-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种处理数据的方法、装置以及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种处理数据的方法、装置以及存储介质。其中，该方法包括：通过根据每两个第一特征参数的稳态值得到至少一个存储能力值，解决了手动处理第一特征参数的繁琐性，使处理第一特征参数更为简单，而针对所述至少一个存储能力值中任一存储能力值，当所述存储能力值大于预设存储能力值时，确定所述存储能力值为待处理参数值，得到至少一个待处理参数值，从而提高了处理第一特征参数的效率，根据所述电学特征参数和所述磁学特征参数获得存储性能值，所述存储性能值用于确认所述MTJ的性能是否达到预期，进而提高了处理第一特征参数的准确性和效率。

本发明授权一种处理数据的方法、装置以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种处理数据的方法，其特征在于，所述方法包括： 获取存储单元是磁隧道结MTJ的第一特征参数集； 获取所述第一特征参数集中每个第一特征参数对应的稳态值； 根据每两个第一特征参数的稳态值得到至少一个存储能力值； 针对所述至少一个存储能力值中任一存储能力值，当所述存储能力值大于预设存储能力值时，确定所述存储能力值为待处理参数值，得到至少一个待处理参数值； 从所述至少一个待处理参数值中提取电学特征参数和或磁学特征参数； 根据所述电学特征参数和或所述磁学特征参数获得存储性能值，所述存储性能值用于确认所述MTJ的性能是否达到预期； 所述获取所述第一特征参数集中每个第一特征参数对应的稳态值，包括： 对所述每个第一特征参数聚类得到第一特征群和第二特征群，所述第一稳态群中每个特征表征的稳态高于第二稳态群每个特征表征的稳态； 计算所述第一特征群和所述第二特征群中每个特征对应的稳态参数，其中，所述第一特征群对应第一稳态参数群，所述第二特征群对应第二稳态参数群，所述第一稳态参数群中的每个稳态参数表征的稳态高于所述第二稳态参数群中的每个稳态参数表征的稳态； 计算所述第一稳态参数群中每个稳态参数与第一参考稳态参数的总和距离，将总和距离最小的第一参考稳态参数作为高稳态值，所述第一参考稳态参数是所述第一稳态参数群中任意一稳态参数； 计算所述第二稳态参数群中每个稳态参数与第二参考稳态参数的总和距离，将总和距离最小的第二参考稳态参数作为低稳态值，所述第二参考稳态参数是所述第二稳态参数群中任意一稳态参数； 所述根据每两个第一特征参数的稳态值得到至少一个存储能力值，包括： 计算所述高稳态值和所述低稳态值的差得到稳态差值； 所述稳态差值除以所述低稳态值得到所述存储能力值。

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