北京科技大学李扬获国家专利权
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龙图腾网获悉北京科技大学申请的专利一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115270224B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210818237.5，技术领域涉及：G06F18/2431；该发明授权一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法是由李扬;张芯瑜;任帅;陈丹丹;储根深;白鹤;胡长军设计研发完成，并于2022-07-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法，包括以下具体步骤：S1：获取三维坐标：获取团簇内各个点缺陷三维坐标；S2：计算距离与角度：计算出相邻点缺陷间的距离与角度；S3：统计数目：将计算所得的距离和角度结果映射到不同区间，统计每个区间的数目；S4：计算缺陷团簇特征向量：基于团簇内相邻点缺陷的距离和角度来描述团簇几何形状，利用各个点缺陷的三维空间坐标计算得到每个团簇的特征向量，本发明公开的基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法具有解决噪声大、灵活性不高的团簇信息特征化描述影响分类效果的问题的效果。
本发明授权一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法在权利要求书中公布了：1.一种基于材料数值计算大数据的级联缺陷团簇分类方法，其特征在于，包括以下具体步骤： S1：获取三维坐标：获取团簇内各个点缺陷三维坐标； S2：计算距离与角度：计算出相邻点缺陷间的距离与角度； S3：统计数目：将计算所得的距离和角度结果映射到不同区间，统计每个区间的数目； S4：计算缺陷团簇特征向量：基于团簇内相邻点缺陷的距离和角度来描述团簇几何形状，利用各个点缺陷的三维空间坐标计算得到每个团簇的特征向量； S5：降维：采用UMAP算法对得到的高维特征向量进行降维，获取数据间的低维结构； S6：聚类：采用基于密度的聚类算法HDBSCAN可视化团簇分类结果，将轮廓系数作为聚类效果的评价指标； S7：可视化团簇分类结果：对团簇分类结果进行处理，使其可视化。
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