中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所张鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所申请的专利一种基于改进K-means聚类的旁瓣杂波跟踪方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115792888B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211282120.6,技术领域涉及:G01S13/66;该发明授权一种基于改进K-means聚类的旁瓣杂波跟踪方法是由张鑫;罗成全;周阳辰设计研发完成,并于2022-10-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于改进K-means聚类的旁瓣杂波跟踪方法在说明书摘要公布了:本申请提供了一种基于改进K‑means聚类的旁瓣杂波跟踪方法,属于雷达信息处理技术领域,具体包括通过设置合适的背景电平检测后所形成的疑似杂波目标数据集基础上,按空间关系通过引用数据挖掘技术的聚类方法进行的后处理操作,针对具体杂波目标数据集,根据频谱上分块杂波目标的数目进行初始化分类数Kin,经过迭代计算目标数据集中样本对象与聚类中心最小距离,对符合门限目标归为一类,迭代结束后合并最终聚类中心间距小于DL的所有类,确定聚类结果,并对类内目标数大于DG且类内距离小于DR的类作为杂波类进行保留。通过本申请的处理方案,能够准确的区分出强旁瓣杂波的范围与边缘。
本发明授权一种基于改进K-means聚类的旁瓣杂波跟踪方法在权利要求书中公布了:1.一种基于改进K-means聚类的旁瓣杂波跟踪方法,其特征在于,包括: 步骤1,将RF平面分割成L个的矩形窗,取出每个矩形窗内最大背景功率位置作为后续聚类初始化值; 步骤2,对RF平面上的每个检测点在距离向进行滑窗处理,滑窗宽度为,得到每个检测点的背景; 步骤3,判断每个信号点是否为疑似杂波目标点,若信号点为疑似杂波目标点,则信号点位置杂波标志置1,杂波目标点,否则信号点位置杂波标志置0,最终形成杂波二值谱矩阵并存储所有疑似杂波目标点的位置信息; 步骤4,统计每个矩形块中信号点位置的杂波标志为1的数量,如果个数满足预设门限,则表示矩形块为杂波块,并记录矩形窗内最大背景功率位置记为,记录满足预设门限矩形窗的数量; 步骤5,设定K-means聚类算法的输入,作为杂波目标数据集,其中为杂波数据集大小,初始化类别数以及算法的迭代次数; 步骤6,将中的样本对象,作为个类的初始聚类中心; 步骤7,对杂波数据集中的每个样本对象,找到与其间距最小的聚类中心,若最小间距距离小于门限值,则将样本对象分配到该聚类中心对应的类,否则将该样本对象从杂波数据集中剔除; 步骤8,计算每个类内样本对象的均值,作为新的聚类中心点; 步骤9,计算聚类准则函数; 步骤10,重复步骤7、8、9直到满足指定迭代次数或聚类准则函数收敛。
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