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龙图腾网获悉深圳米飞泰克科技股份有限公司申请的专利芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119125836B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411108284.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质是由张天泽;杨泽坤;楚志华;李安平;李晓白设计研发完成，并于2024-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质，其特征在于，包括：探针台、测试仪；所述测试仪获得待测试芯片的待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，N≥1；所述测试仪对所述待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量；所述测试仪根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比；所述测试仪将所述待测试芯片的占空比发送给所述探针台。本发明实用性极高，使用简单，可以快速的、精准的测试芯片占空比。

本发明授权芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：探针台、测试仪，所述探针台与所述测试仪电连接； 所述测试仪获得待测试芯片的待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，N＞1，其中，所述获得待测试芯片的待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，包括：基于捕获存储功能对芯片引脚信号进行电平信息抓取来获得待测试芯片的待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息； 所述测试仪对所述待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量，所述最多连续高电平数量是指N个信号周期中多个比特位连续出现高电平情况下所出现的最多个高电平所对应的数量，所述最多连续低电平数量是指N个信号周期中多个比特位连续出现低电平情况下所出现的最多个低电平所对应的数量； 所述测试仪根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比； 所述测试仪将所述待测试芯片的占空比发送给所述探针台。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳米飞泰克科技股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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