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龙图腾网获悉中国科学院上海高等研究院申请的专利同步辐射装置控制器及其ADC分辨率优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119225239B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411326896.2，技术领域涉及：G05B19/042；该发明授权同步辐射装置控制器及其ADC分辨率优化方法是由兰旭颖;何健;胡纯;陈慧婷;张招红设计研发完成，并于2024-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本同步辐射装置控制器及其ADC分辨率优化方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化方法，其包括：在同步辐射装置控制器的FPGA芯片上建立同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化系统；规定ADC分辨率优化系统的期望的信噪比变量，再求解控制器参数；从同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化系统中获取从外部扰动信号到误差的传递函数，通过优化控制器参数，以最小化从外部扰动信号到误差的传递函数的H2范数；以FPGA获取ADC数据的采样率作为控制量来进行控制，实现ADC分辨率的直接控制和降噪控制。本发明还提供相应的ADC分辨率优化系统。本发明的一种同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化方法能够有效改善ADC分辨率，无需更改硬件，降低了成本。

本发明授权同步辐射装置控制器及其ADC分辨率优化方法在权利要求书中公布了：1.一种同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化方法，其特征在于，其包括： 步骤S1：在同步辐射装置控制器的FPGA芯片上建立同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化系统，所述ADC分辨率优化系统包括构成一个闭合回路的广义对象和控制器；广义对象设置为根据外部信号w和FPGA获取ADC数据的采样率u，通过信噪比传递函数Ps来计算得到量测的信噪比变量v和误差z，控制器设置为根据量测的信噪比变量v通过控制器参数K来计算得到FPGA获取ADC数据的采样率u，外部信号w包括外部扰动信号wd和期望的信噪比变量r，外部扰动信号wd通过ADC模块采集得到；通过系统辨识方法确定信噪比传递函数Ps； 步骤S2：规定所述ADC分辨率优化系统的期望的信噪比变量，再求解相应的控制器参数K； 步骤S3：从同步辐射装置控制器的ADC分辨率优化系统中获取从外部扰动信号wd到误差z的传递函数，通过优化控制器参数K，以最小化从外部扰动信号wd到误差z的传递函数的H2范数；随后，以FPGA获取ADC数据的采样率u作为控制量来进行控制，实现ADC分辨率的直接控制和降噪控制； 所述步骤S2具体包括： 步骤S21：规定期望的信噪比变量r的值，并建立一个稳定的信噪比传递函数Ps； 步骤S22：对于所述信噪比传递函数Ps，将其分解为信噪比传递函数的可逆的最小相位部分Pms和不可逆的全通部分Pas； 步骤S23：根据信噪比传递函数的不可逆的全通部分Pas，确定从期望的信噪比变量r到量测的信噪比变量v所对应的期望的闭环传递函数Ys； 步骤S24：根据步骤S22的分解结果、步骤S23得到的期望的闭环传递函数Ys、以及期望的闭环传递函数Ys和控制器参数K的关系式，求解控制器参数K； 在所述步骤S22中，信噪比传递函数的最小相位部分Pms和不可逆的全通部分Pas满足以下公式： Ps＝PmsPas， 其中，θ为时延参数，zi为非最小相位零点，Rezi为zi的实部，s表示s域，下标i是序数； 在所述步骤S23中，期望的闭环传递函数Ys为： Ys＝fsPas， 其中，fs是低通滤波器； 在所述步骤S24中，期望的闭环传递函数Ys和控制器参数K关系式为： 其中，P是信噪比传递函数，K是控制器参数；f是低通滤波器，Pm是信噪比传递函数的可逆的最小相位部分，Y是期望的闭环传递函数。

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