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龙图腾网获悉联宝(合肥)电子科技有限公司申请的专利电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115932449B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211654195.2，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质是由徐家成;杨志锋;刘晓;付成涛;赵会栋;王怀堂;毕浩;程先锋设计研发完成，并于2022-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质，通过在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值；根据所述待测机台的机型功耗设计值和所述实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足最优合格条件；若所述待测机台不满足所述最优合格条件，则根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和或显示芯片的温度墙，以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件，不仅能够实现智能检测控制、操作便捷，还能够有效的降低电子产品性能检测的误判率，避免人力与资金的浪费。

本发明授权电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电子产品的性能测试方法，其特征在于，所述方法包括： 在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值； 根据所述待测机台的机型功耗设计值和所述实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足最优合格条件； 若所述待测机台不满足所述最优合格条件，则根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和或显示芯片的温度墙，以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件； 所述根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和或显示芯片的温度墙以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件，包括： 若所述待测机台触发所述待测机台内控制芯片和或显示芯片的温度墙，则向服务器发送环温请求命令，获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值； 根据所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，确定与所述环温均值对应的机型功耗参考值； 根据所述机型功耗参考值和所述待测机台的实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足合格条件。

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