天狼芯半导体(成都)有限公司刘涛获国家专利权
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龙图腾网获悉天狼芯半导体(成都)有限公司申请的专利带隙基准芯片及其制备方法、电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116314258B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310082287.6,技术领域涉及:H10D62/10;该发明授权带隙基准芯片及其制备方法、电子设备是由刘涛;黄汇钦设计研发完成,并于2023-01-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本带隙基准芯片及其制备方法、电子设备在说明书摘要公布了:本发明适用于半导体器件领域,提供了一种带隙基准芯片及其制备方法、电子设备,该带隙基准芯片包括:P型硅层、N型硅层、N型碳化硅层、多个P型掺杂区、阳极金属层、阴极金属层,通过P型硅层和N型硅层形成具有负温度系数的PN结,然后由N型碳化硅层、多个P型掺杂区、阳极金属层形成具有正温度系数的肖特基结,从而由PN结和肖特基结串联互相抵消其温度特性,改善现有的二极管结构的通态压降对温度的依赖性,实现稳压电路的精准性。
本发明授权带隙基准芯片及其制备方法、电子设备在权利要求书中公布了:1.一种带隙基准芯片,其特征在于,所述带隙基准芯片包括: P型硅层; N型硅层,形成于所述P型硅层的背面;所述P型硅层与所述N型硅层形成负温度系数的PN结; N型碳化硅层,形成于所述P型硅层的正面; 多个P型掺杂区,形成于所述N型碳化硅层的正面;所述P型掺杂区通过在N型碳化硅层的正面的指定区域注入P型掺杂离子形成; 阳极金属层,形成于所述N型碳化硅层的正面,并与所述N型碳化硅层之间形成肖特基接触;所述N型碳化硅层、多个所述P型掺杂区、所述阳极金属层形成具有正温度系数的肖特基结; 阴极金属层,形成于所述N型硅层的背面。
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