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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118803432B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410777580.9，技术领域涉及：H04N23/743；该发明授权一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法是由何志平;李津宁;徐睿;李春来;李飞飞设计研发完成，并于2024-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法，涉及成像光谱仪技术领域。方法包括基于预选的特征曝光参数Pnλ′，获取特征波长λ′对应的光谱图像数据；计算获取到特征波长λ′的光谱图像的均值比较均值与设定的阈值DN′λ'，输出最优曝光参数序列对应的序号n；基于最优曝光参数序列En中所有探测波长对应的曝光参数Pnλ对各探测波长λ进行成像探测，获取各探测波长λ的光谱图像，完成成像光谱自适应曝光操作。系统包括自适应曝光参数调控模块、光学器件、分光器件与探测器。本发明与常规成像光谱自动曝光方法相比提升了光谱采集速度，简化了定标步骤，降低了定标难度，确保了获取的光谱数据的定量化精度。

本发明授权一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法在权利要求书中公布了：1.一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1、基于预选的特征曝光参数Pn，获取特征波长对应的光谱图像数据，其中，特征曝光参数Pn为曝光参数序列集合E中对应特征波长的曝光参数，而曝光参数序列集合E中共包含k个曝光参数序列，每个曝光参数序列中都包含了对应全部探测波长的曝光参数Pn； 步骤S2、计算获取到的特征波长的光谱图像的数字量化值DN对应的均值，比较均值与设定的阈值，根据比较结果，输出适合当前探测场景的最优曝光参数序列En对应的序号n，其中，最优曝光探测序列En的判断条件为：均值和阈值之间差值的绝对值等于极小值；极小值的计算过程为：基于当前采用的曝光参数序号为n，得到的均值与阈值之间的差值为DNdiff，极小值指的是曝光参数序号为n+1时的差值DNdiff与曝光参数序号为n-1时的差值DNdiff都比当前曝光参数序号为n时的差值DNdiff大，即认为当前曝光参数序号为n时的差值DNdiff为极小值； 步骤S2中，特征波长的均值与阈值的比较过程为： 当均值大于阈值，且均值与阈值之间的差值大于极小值时，则调整特征曝光参数Pn为低一级序号所对应的特征波长的特征曝光参数Pn-1，此时的n=n-1，重复步骤S1； 当均值小于阈值，且均值与阈值之间的差值大于极小值时，则调整特征曝光参数Pn为高一级序号对应的特征波长的特征曝光参数Pn+1，此时的n=n+1，重复步骤S1； 如果均值等于阈值，或者，均值与阈值的差值等于极小值，则输出当前的曝光参数序列集合E中的序号n； 步骤S3、基于最优曝光参数序列En中所有探测波长对应的曝光参数Pn对各探测波长进行成像探测，获取各探测波长的光谱图像，完成成像光谱自适应曝光操作； 其中，曝光参数序列集合E的生成步骤为： 步骤1、调节光源的幅亮度能级为C，采用增益G与积分时间T获取该幅亮度能级条件下的光谱图像，初始化光源的幅亮度能级C为光源福亮度最小能级，获取初始光谱图像波长； 步骤2、计算初始光谱图像波长的光谱图像均值，判断光谱图像均值与探测阈值之间的差值，根据判断结果，输出积分时间T和增益G； 步骤3、将输出的积分时间T与增益G记为当前幅亮度能级下该光谱图像波长的曝光参数，调整获取的光谱图像波长，使=+1，重复步骤1至步骤3，直到光谱图像波长为最大光谱图像波长，将各光谱图像波长对应获得的曝光参数都输出； 步骤4、将输出的曝光参数进行集合后记为光源能级C的曝光参数序列，调整光源的幅亮度能级C=C+1，重复步骤1至步骤4，直到幅亮度能级C为光源的最大幅亮度能级，输出各幅亮度能级的曝光参数序列的集合记为。

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