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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118816705B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410849267.1，技术领域涉及：G01B9/02055；该发明授权一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法是由李东光;刘晓军;郭佳辉;孙华舜;罗琛设计研发完成，并于2024-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法，涉及光纤干涉位移测量技术领域，包括：通过可调频激光器输出第一路调制激光和第二路调制激光；第一路调制激光通过分光棱镜后产生干涉，并通过第一光电探测器扫描输出，第二路调制激光通过气体吸收池的特定吸收谱线吸收特定波长激光，使用第二光电探测器进行探测，并通过解调模块进行解调输出，获取解调后激光光强信号两个峰值的扫描时间，以及测量镜相对位移与初始光程差获得干涉信号的干涉总光程差，通过扫描时间与干涉总光程差获取相位调制深度，并通过调制模块调节可调频激光器的电流幅度，通过调制模块控制电流输出可实现相位调制深度校正，降低了相位调制深度的校正难度。

本发明授权一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法在权利要求书中公布了：1.一种激光调频干涉仪相位调制深度的校正方法，其特征在于，包括如下步骤： 通过激光调频干涉仪的可调频激光器输出第一路调制激光和第二路调制激光； 将所述第一路调制激光通过分光棱镜分为两束，两束激光分别输向反射镜和测量镜，并将输向反射镜的激光作为参考光束，将输向测量镜的激光作为测量光束，且在所述参考光束和测量光束反射回来时产生干涉，对产生干涉的激光使用第一光电探测器进行探测，且对第一光电探测器探测出的信号使用解调模块解调，获得干涉信号； 将所述第二路调制激光输入气体吸收池，通过气体吸收池中的两处特定吸收谱线接收特定波长的第二路调制激光，对特定波长的第二路调制激光使用第二光电探测器进行探测，且将第二光电探测器探测出的信号输入解调模块解调，获得调制激光光强信号； 获取所述调制激光光强信号两个峰值对应的扫描时间，并获取分光棱镜到测量镜光程，以及分光棱镜到反射镜光程间的初始光程差，基于测量镜相对位移与初始光程差的和获得干涉信号的干涉总光程差； 通过所述扫描时间与干涉总光程差获取相位调制深度，并在相位调制深度达到理想值时通过调制模块调节可调频激光器的电流幅度，通过电流幅度与激光频率关系进行相位调制深度校正。

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