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电子科技大学黄钰林获国家专利权

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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118884430B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410905343.6,技术领域涉及:G01S13/89;该发明授权一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法是由黄钰林;霍伟博;安然;张玉婕;杜淦秋;张寅;裴季方;杨建宇;杨海光设计研发完成,并于2024-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法,应用于合成孔径雷达探测与成像技术领域,针对现有技术在背景噪声较强或空间分布不均匀时,存在的检测效果较差的问题;本发明根据交流系数增强目标区域,再逆离散余弦变换进行阈值分割,完成目标检测。根据实验验证及分析,在复杂背景噪声的情况下,本发明方法具备较好的检测效果和较高的精确率。

本发明授权一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于余弦变换域局部对比增强的SAR成像检测方法,其特征在于,包括: S1、将待处理的SAR图像分成等尺寸的若干像素块,对每个像素块进行二维DCT; S2、将各像素块左上角这个像素点对应的二维DCT结果作为直流系数,其余像素点对应的二维DCT结果为交流系数; S3、采用M×M尺寸的滑窗P来对经二维DCT处理后的SAR图像进行处理,M表示经二维DCT处理后的像素块个数;通过计算当前滑窗P中位于中心的像素块的增益系数,基于增益系数对当前滑窗P中位于中心的像素块进行增强处理; S4、对完成滑窗处理后的SAR图像,进行分块逆离散余弦变换,得到显著图; S5、对显著图进行阈值分割,二值化图像;得到雷达图像中的目标形态特征。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人电子科技大学,其通讯地址为:611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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