Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
商城订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励

投诉建议

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 积分商城 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国科学院上海光学精密机械研究所刘代中获国家专利权

中国科学院上海光学精密机械研究所刘代中获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119246017B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411395520.7,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统是由刘代中;康瑶函设计研发完成,并于2024-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。

六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统,属于高功率激光装置准直技术领域。利用一对角锥标定晶体的近场位置,利用两对近场重合、远场分开的小光束标定主光束近场中心,使其作为主光束的近场基准。利用近场相机同时接收近场基准小光束对的光斑和角锥反射光斑对,两对光斑的中心偏差即为晶体近场中心位置相对主光束的偏差。根据偏差值利用反馈控制系统进行晶体近场位置的自动准直调整。本发明解决了晶体准直时需人眼观察晶体近场位置和主光束的偏差,存在图像分辨率低、难以定位中心并精确调节的问题。本发明提高了晶体准直效率和调试精度,具有设备简、调整易、精度高的特点。

本发明授权六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统在权利要求书中公布了:1.一种六程放大高功率激光装置晶体近场中心位置偏差检测系统,其特征在于,包括: 两对小光束,均放置在第一调节反射镜RM1后,用于提供近场参考,两对小光束的近场位置重合,远场角度不同,光束对的远场指向分别通过传输空间滤波器的不同滤波小孔; 一对角锥,可移入移出地放置在晶体前,用于标定晶体的近场位置; 第二调节反射镜TM3、第三调节反射镜TM4,设置在所述角锥前,用于调整入射晶体的光束路径; 直角棱镜,可移动至传输空间滤波器的不同滤波小孔后,用于反射光束至近场检测系统; 近场检测系统,用于获取并成像主光束的近场图像及小光束和角锥的反射光斑; 通过以下步骤检测并调整晶体近场中心位置偏差: a利用过传输空间滤波器的不同滤波小孔后小光束对调节主光束近场中心与小光束对近场中心重合,确定主光束近场基准; b将另一小光束对作为近场位置参考,通过移动直角棱镜至相应滤波小孔后,反射至近场检测系统成像; c将一对角锥移入主光路中,在晶体前相对晶体中心线对称放置,反射主激光至近场检测系统成像,得到角锥反射光斑中心; d比较近场基准小光束对光斑中心与角锥反射光斑中心的偏差,利用调节反射镜组TM3、TM4,使偏差调整至预定误差范围内,实现晶体近场位置的准直; 还包括反馈系统,用于根据近场相机中角锥对反射光斑的中心与近场基准小光束对光斑的中心的偏差,调节所述第二调节反射镜TM3和第三调节反射镜TM4,使得这两对光斑的中心位置偏差调整至误差范围; 所述近场检测系统包括沿光路依次放置的缩束透镜、成像反射镜、第一成像透镜、第二成像透镜和近场检测相机构成,通过所述缩束透镜31、成像反射镜32、第一成像透镜33和第二成像透镜34将光束成像至近场检测相机35,以获取主光束的近场图像中心和小光束的成像光斑。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海光学精密机械研究所,其通讯地址为:201800 上海市嘉定区清河路390号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。