深圳中科飞测科技股份有限公司陈鲁获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利一种缺陷验证方法、装置、计算机设备及可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119269498B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310795102.6,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权一种缺陷验证方法、装置、计算机设备及可读存储介质是由陈鲁;肖遥;张鹏斌;张嵩设计研发完成,并于2023-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种缺陷验证方法、装置、计算机设备及可读存储介质在说明书摘要公布了:本申请实施例公开了一种缺陷验证方法,该方法包括:获得第一待验证图像与第二待验证图像;第一待验证图像与第二待验证图像包括缺陷像素点;在第一待验证图像划分像素区域,获得第一区域,在第二待验证图像的相同位置划分相同大小的像素区域,获得第二区域;其中,像素区域是以待测点为中心的区域;分别对第一区域内和第二区域内的像素点的像素值进行求和,得到第一像素求和值和第二像素求和值;根据第一像素求和值与第二像素求和值判断像素区域内是否存在缺陷像素点。即通过对区域内像素点的像素值进行求和,进而根据求和值判断划分的像素区域内是否存在缺陷像素点,从而确定划分出的像素区域内是否存在缺陷像素点,以提高缺点像素点的检出率。
本发明授权一种缺陷验证方法、装置、计算机设备及可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种缺陷验证方法,其特征在于,所述方法包括: 获得第一待验证图像与第二待验证图像;其中,所述第一待验证图像是待检测图像与第一参考图像进行对比得到的检测结果,所述第二待验证图像是所述待检测图像与第二参考图像进行对比得到的检测结果,所述第一待验证图像与所述第二待验证图像包括缺陷像素点; 在所述第一待验证图像划分像素区域,获得第一区域,在所述第二待验证图像的相同位置划分相同大小的像素区域,获得第二区域;其中,所述像素区域是以待测点为中心的区域; 对所述第一区域内的像素点的像素值进行求和得到第一像素求和值,对所述第二区域内的像素点的像素值进行求和得到第二像素求和值; 根据所述第一像素求和值与所述第二像素求和值判断所述像素区域内是否存在所述缺陷像素点。
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