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龙图腾网获悉威凯检测技术有限公司;中国电器科学研究院股份有限公司申请的专利一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119577316B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411625212.9，技术领域涉及：G06F17/18；该发明授权一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法及系统是由廖鹏宇;陈华文;李鹏忠;周天易;陈云华设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法及系统，包括：利用Weibull分布对光隔离器件的寿命终止时间数据进行统计和分布参数估计，获得拟合概率图；基于拟合概率图，获得不同试验电压下规定失效率的失效时间；基于不同试验电压下规定失效率的失效时间，获得不同特定电压下光隔离器的寿命时间预测图；基于不同特定电压下光隔离器的寿命时间预测图，分析出特定重复峰值隔离电压下器件的寿命。本发明提出一种数据分析技术，以得到准确的VIORM值及预测的寿命，使在不同场景下光隔离器的寿命预测更加准确。

本发明授权一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于光隔离器件的重复峰值隔离电压制定方法，其特征在于，包括以下步骤： 利用Weibull分布对光隔离器件的寿命终止时间数据进行统计和分布参数估计，获得拟合概率图； 基于拟合概率图，获得不同试验电压下规定失效率的失效时间； 基于不同试验电压下规定失效率的失效时间，获得不同特定电压下光隔离器的寿命时间预测图； 基于不同特定电压下光隔离器的寿命时间预测图，分析出特定重复峰值隔离电压下器件的寿命； 在得到的Weibull分布图中，读取在特定失效率下的三组电压对应的寿命时间，得到三组寿命时间L和电压V的数据后，对器件的寿命曲线进行拟合，对于不同类型的光隔离器，有对应不同的拟合模型； 基于不同试验电压下规定失效率的失效时间，获得不同特定电压下光隔离器的寿命时间预测图的方法包括：选取三组不同电压下失效时间后，进行不同电压下寿命预测曲线的拟合； 选取三组不同电压下失效时间后，进行不同电压下寿命预测曲线的拟合的方法包括： 对于SiO2类光隔离器，选用指数模型： 其中，L为寿命即基于不同试验电压下规定失效率的失效时间，V为电压，c、k为待定参量； 利用指数模型，通过三组不同的实验数据得到三个方程并进行两两联立，得到三组不同的k值： k值确定后，利用三组数据对参数c进行指数拟合，得到最终的三组寿命曲线； 在三组寿命曲线中选定制造商所要达到的宣称寿命，找到对应的电压Vwareout，取电压最小的拟合结果。

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