紫光同芯微电子有限公司张轩宁获国家专利权
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龙图腾网获悉紫光同芯微电子有限公司申请的专利用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119728071B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411934217.X，技术领域涉及：H04L7/00；该发明授权用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台是由张轩宁;赵禹源;张满新设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台在说明书摘要公布了：本申请涉及芯片测试技术领域，公开一种用于异步半双工通信协议的芯片测试方法，包括：在芯片上电的情况下，发送测试指令和标准时长信号至芯片，以分别计算多个档位的内部时钟信号与外部时钟信号的偏差比例；其中，不同档位内部时钟信号与偏差比例一一对应；利用内部时钟对标准时长信号进行采样，获得用于动态校准的偏差数据；将多个外部输入协议帧的信号采样结果与预期偏差结果进行对比获取多组计算偏差值，并基于该数据计算平均偏差值；其中，多个偏差值结果为每次比对获得的单次协议帧偏差值；根据偏差比例、平均偏差值和协议帧信号的内部计数值，计算时钟偏差的修正值以校准时钟偏差。该方法可在芯片测试中校准时钟偏差。
本发明授权用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台在权利要求书中公布了：1.一种用于异步半双工通信协议的芯片测试方法，其特征在于，包括： 在芯片上电的情况下，发送测试指令和标准时长信号至芯片，以分别计算多个档位的内部时钟信号与外部时钟信号的偏差比例；其中，多个档位的内部时钟信号与多个偏差比例一一对应； 利用内部时钟对标准时长信号进行采样，获得用于动态校准的偏差数据； 将多组外部输入的协议帧信号的采样结果分别与预期偏差结果进行对比获得多个偏差值，并迭代偏差值计算平均偏差值；其中，多个偏差值为每次比对获得的单次协议帧偏差值； 根据偏差比例、平均偏差值和协议帧信号的内部计数值，计算时钟偏差的修正值用于校准时钟偏差。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人紫光同芯微电子有限公司，其通讯地址为：100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼一层106A；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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