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龙图腾网获悉蓝芯存储技术(赣州)有限公司申请的专利基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064945B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510526299.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统是由庄晓鹏;郑传锋;江雄;谢院生设计研发完成，并于2025-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统，该方法包括：将待测芯片通过探针卡连接至测试通道，对探针卡电源分配层中的多个电压传感器节点进行采样，获取电源轨电压分布数据；通过预设神经网络模型根据电源轨电压分布数据和测试向量序列计算电源轨压降预测数据；根据预测数据对测试板上的多级并行电容阵列进行补偿控制，并在此控制下执行芯片测试，获得测试结果和补偿控制数据；利用补偿控制数据和电压分布数据对测试结果进行校正，得到校正后的芯片性能参数。本发明实现了电源轨瞬态压降的精确监测、预测、主动补偿与校正，显著提高了芯片性能测试的准确性和一致性。

本发明授权基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于自动化设备的芯片性能测试方法，其特征在于，所述自动化设备包括测试板、探针卡和测试通道，所述基于自动化设备的芯片性能测试方法包括： 将待测芯片放置在所述测试板上，通过所述探针卡与所述测试通道连接，对所述探针卡的电源分配层中设置的多个电压传感器节点进行采样控制，得到电源轨电压分布数据； 获取所述待测芯片的测试向量序列，并通过预设的神经网络模型根据所述电源轨电压分布数据和测试向量序列计算电源轨压降预测数据； 对所述电源轨压降预测数据进行响应速度分析，计算不同时间尺度的压降补偿需求；对根据所述不同时间尺度的压降补偿需求进行小波变换分解，将补偿信号分解为不同频率子带，并计算各频率子带的能量分布特征和相位特征；根据测试板上的多级并行电容阵列中各电容单元的寄生参数和温度特性，构建动态阻抗模型，并通过状态方程计算各电容单元在不同频率下的补偿能力；基于遗传算法对各频率子带的补偿任务进行优化分配，建立电容单元补偿效率与补偿时序的目标函数，生成补偿策略候选集；通过粒子群优化算法对所述补偿策略候选集进行迭代优化，计算各电容单元的补偿电流大小和注入时序；通过多通道PWM控制器对所述多级并行电容阵列中的电容单元进行充放电控制，得到电源轨补偿控制数据，并在所述充放电控制下执行所述测试向量序列，得到芯片测试结果； 根据所述电源轨补偿控制数据和所述电源轨电压分布数据，对所述芯片测试结果进行校正处理，得到校正后的芯片性能参数。

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