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龙图腾网获悉上海壹徕科技股份有限公司申请的专利一种电子元器件物料识别管理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120472449B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510955451.9，技术领域涉及：G06V20/64；该发明授权一种电子元器件物料识别管理方法是由顾加铨;黄泽金;平建东设计研发完成，并于2025-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件物料识别管理方法在说明书摘要公布了：本申请涉及元器件管理的技术领域，公开一种电子元器件物料识别管理方法，包括：通过X射线成像、激光雷达及重量传感器同步获取灰度图像、三维点云及重量数据，基于动态权重分配算法融合生成多维特征矩阵；提取基于多维特征矩阵提取电子元器件对应的物理特性参数，结合物料物理特性数据库通过多参数匹配生成唯一标识码，输出物料类型与规格；针对高温或强电磁干扰场景，X射线探测器实时调整增益与采样频率，通过点云空间相关性修正图像畸变，输出高保真图像；OCR技术自动识别标签信息，实现库存动态更新；通过高保真图像与多维特征的几何一致性校验，若出现冲突则触发预警物料物理特性数据库。本申请能够提高电子元器件识别管理的精度、适配性。

本发明授权一种电子元器件物料识别管理方法在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件物料识别管理方法，其特征在于，包括： 通过X射线成像设备获取电子元器件的X射线灰度图像，同时通过激光雷达获取电子元器件对应的三维点云数据，并通过重量传感器采集取电子元器件对应的重量信息；并基于信噪比的动态权重分配对所述X射线灰度图像、所述三维点云数据以及所述重量信息进行融合，生成融合后的多维特征矩阵； 基于所述多维特征矩阵提取电子元器件对应的物理特性参数，物理特性参数包括密度、几何对称性、表面曲率；调取预先设置的物料物理特性数据库，将所述物理特性参数与所述物料物理特性数据库通过多参数联合匹配算法生成唯一标识码，并输出物料类型与规格信息； 在X射线探测器前端集成自适应滤波电路，实时获取对应的环境温度和电磁场强度，基于所述环境温度和所述电磁场强度调整X射线探测器增益和采样频率；基于所述三维点云数据基于空间相关性算法对因高温或强电磁干扰导致的X射线图像畸变进行修正，输出修正后的高保真图像； 将所述唯一标识码与物料数据库关联，通过结构化OCR技术自动识别标签信息，完成物料入库、出库及库存动态更新；将所述高保真图像与所述多维特征矩阵进行几何一致性校验，若出现物料类型、规格信息与数据库记录冲突，确定异常匹配结果，基于所述异常匹配结果进行二次验证，触发预警机制并生成修正后的库存数据。

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