北京七星华创微电子有限责任公司夏洪铨获国家专利权
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龙图腾网获悉北京七星华创微电子有限责任公司申请的专利掩膜板法降低接触电阻的测试座获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120594900B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511099825.8，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权掩膜板法降低接触电阻的测试座是由夏洪铨;高飞;常佰刚设计研发完成，并于2025-08-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本掩膜板法降低接触电阻的测试座在说明书摘要公布了：本申请涉及模块测试的技术领域，尤其是涉及一种掩膜板法降低接触电阻的测试座，包括测试座、掩膜板。测试座上开设有容纳槽，容纳槽的底部安装有多个探针，探针上套设有弹性件，弹性件与探针弹性连接，弹性件上安装有覆板，弹性件驱动覆板远离容纳槽的底部，覆板上开设有待测孔和安装孔。掩膜板插设在安装孔内，掩膜板为导电材质，掩膜板靠近探针的一侧开设有安装槽，探针插设在安装槽内，掩膜板远离探针的一侧固定连接有多个探头，掩膜板上连接的探头的数量多于连接的探针数量。利用多个探头与焊盘进行抵接，增加了探头与焊盘的接触点数和接触面积，本申请具有减小接触电阻、提高生产效率的效果。
本发明授权掩膜板法降低接触电阻的测试座在权利要求书中公布了：1.一种掩膜板法降低接触电阻的测试座，其特征在于，包括： 测试座1，所述测试座1上开设有容纳槽11，所述容纳槽11的底部安装有多个探针3，所述探针3上套设有弹性件31，所述弹性件31与所述探针3弹性连接，所述弹性件31上安装有覆板4，所述弹性件31驱动所述覆板4远离所述容纳槽11的底部，所述覆板4上开设有待测孔41和安装孔42，所述待测孔41用于供一个探针3穿过，所述安装孔42供同一功能区的多个所述探针3穿过； 掩膜板2，插设在所述安装孔42内，所述掩膜板2为导电材质，所述掩膜板2靠近所述探针3的一侧开设有安装槽21，所述探针3插设在所述安装槽21内，所述掩膜板2远离所述探针3的一侧固定连接有多个探头22，所述掩膜板2上连接的所述探头22的数量多于连接的所述探针3数量。
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