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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种用于环形薄壁工件的双传感器测量系统以及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113686252B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111010369.7，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种用于环形薄壁工件的双传感器测量系统以及测量方法是由陈远流;胡朋;高智远;居冰峰设计研发完成，并于2021-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于环形薄壁工件的双传感器测量系统以及测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于高精度测量技术领域，特指一种用于环形薄壁工件的双传感器测量系统以及测量方法。包括：XY定位平台，具有X方向移动的X向驱动平台以及Y方向移动的Y向驱动平台；旋转台，设置在XY定位平台上，用于Z向旋转；手调台，设置在旋转台上，且具有装夹环形薄壁工件的工件载具，用于微调环形薄壁工件的位置；Z向驱动平台，用于Z方向移动；两个传感器调节装置，安装在Z向驱动平台上；以及两个位移传感器，安装在传感器调节装置上，且位移传感器的光路相互对齐。本发明通过两个位移传感器测量环形薄壁工件的中心线与旋转台转轴轴线之间的偏移距离以及偏移角度，并通过手调台消除，从而提高工件的测量精度。

本发明授权一种用于环形薄壁工件的双传感器测量系统以及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种用于环形薄壁工件的双传感器测量方法，其特征在于， 基于用于环形薄壁工件的双传感器测量系统，该双传感器测量系统包括： XY定位平台，具有X方向移动的X向驱动平台102以及Y方向移动的Y向驱动平台101； 旋转台103，设置在XY定位平台上，用于Z向旋转； 手调台105，设置在旋转台103上，且具有装夹环形薄壁工件106的工件载具，用于微调环形薄壁工件106的位置； Z向驱动平台109，用于Z方向移动； 两个传感器调节装置，安装在Z向驱动平台109上，用于调节位移传感器107的位置；以及 两个位移传感器107，安装在传感器调节装置上，且位移传感器107的光路相互对齐，用于测量位移传感器107到环形薄壁工件106内外壁的距离； 其中，所述手调台105包括用于X向移动的X向平移微调组件、用于Y向移动的Y向平移微调组件、用于绕X向旋转的X向倾角台110以及用于绕Y向旋转的Y向倾角台111； 其中，所述传感器调节装置包括用于Z向移动的Z向平动微调组件112、用于X向移动的X向平动微调组件113、用于绕Z向旋转的Z向角度微调组件114以及用于绕Y向旋转的Y向角度微调组件115； 该双传感器测量方法包括以下步骤： 第一步：安装环形薄壁工件106至工件载具； 第二步：移动XY定位平台，使环形薄壁工件106移动至两个位移传感器107的下方；移动Z向驱动平台109，使两个位移传感器107移动至环形薄壁工件106的水平截面a所在的薄壁处； 第三步：通过控制旋转台103旋转和X向驱动平台102平移测量环形薄壁工件106，并记录位移传感器107的读数，根据几何关系计算出环形薄壁工件106在水平截面a处圆心相对于旋转台103旋转轴线的偏心坐标； 第四步：移动Z向驱动平台109，使两个位移传感器107移动至环形薄壁工件106的水平截面b所在的薄壁处； 第五步：通过控制旋转台103旋转和X向驱动平台102平移，测量环形薄壁工件106，并记录位移传感器107的读数，根据几何关系计算出环形薄壁工件106在水平截面b处圆心相对于旋转台103的旋转轴线的偏心坐标； 第六步：根据水平截面a和水平截面b处圆心的偏心坐标，计算环形薄壁工件106的中心轴在YZ平面的倾角α以及在XZ平面上的倾角β，公式如下： 1 2 第七步：根据倾角α和β，分别调节手调台105绕X轴、Y轴旋转的自由度，使得环形薄壁工件106的中心轴与旋转台103的旋转轴线平行，实现测量环形薄壁工件106的倾角调节； 第八步：控制旋转台103旋转和X向驱动平台102平移测量环形薄壁工件106，并记录位移传感器107读数，根据几何关系计算出环形薄壁工件106在水平截面b处圆心相对于旋转轴线的偏心坐标为；那么根据和调节手调台105，可以消除X、Y方向上的偏心距离，进而使环形薄壁工件106的中心轴与旋转台103的旋转轴线重合，实现对心。

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