丰田自动车株式会社;日本株式会社日立高新技术科学竹下慎也获国家专利权
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龙图腾网获悉丰田自动车株式会社;日本株式会社日立高新技术科学申请的专利用于膜电极组件的检测方法和检查装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115078425B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210138063.8，技术领域涉及：G01N23/083；该发明授权用于膜电极组件的检测方法和检查装置是由竹下慎也;高原稔幸设计研发完成，并于2022-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于膜电极组件的检测方法和检查装置在说明书摘要公布了：本发明涉及用于膜电极组件的检测方法和检查装置。膜电极组件的检查方法包括：第一过程，该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域；第三过程，该第三过程基于膜电极组件中的异物的平面尺寸与由于X射线的衍射而引起的亮度变化之间的相关性，根据亮度降低区域的平面尺寸，校正在第二过程中识别的亮度降低区域的亮度；以及第四过程，该第四过程基于在第三过程中校正的亮度，求出膜电极组件中异物的厚度。
本发明授权用于膜电极组件的检测方法和检查装置在权利要求书中公布了：1.一种膜电极组件的检查方法，所述检查方法的特征在于包括： 第一过程，所述第一过程获取所述膜电极组件的X射线透射图像； 第二过程，所述第二过程在所述第一过程中获取的所述X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域； 第三过程，所述第三过程基于所述膜电极组件中的异物的平面尺寸与由于X射线的衍射而引起的亮度变化之间的相关性，根据所述亮度降低区域的平面尺寸，对在所述第二过程中识别出的所述亮度降低区域的亮度进行校正；以及 第四过程，所述第四过程基于在所述第三过程中校正过的亮度求出所述膜电极组件中的异物的厚度。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人丰田自动车株式会社;日本株式会社日立高新技术科学，其通讯地址为：日本爱知县丰田市；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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