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致茂电子(苏州)有限公司陈秉宽获国家专利权

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龙图腾网获悉致茂电子(苏州)有限公司申请的专利待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116465300B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210030341.8,技术领域涉及:G01B11/00;该发明授权待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备是由陈秉宽;杨兰升;朱建勋设计研发完成,并于2022-01-12向国家知识产权局提交的专利申请。

待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备,其基于预先建置的至少二对比值查找表,以在检测程序中取得该待测面的倾斜状态。通过不同波段的光线对于目标检测区具有的相异准焦程度,取得目标检测区中相异两波段的准焦指数的对比程度,再于对应的对比值查找表中找寻匹配的两个高度位置参数,进而可基于高度位置参数间的差异程度取得待测面的倾斜状态,后续作为姿态的调整依据。因此,在这种匹配式机制的运作下,一幅影像就可进行姿态的检测,免除了耗时的对观测点逐层检测准焦程度的程序,可大幅提高待测面姿态的检测效率。

本发明授权待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备在权利要求书中公布了:1.一种待测面姿态的检测方法,其基于预先建置的至少二对比值查找表,以在检测程序中取得该待测面的倾斜状态,所述检测方法包括: 在所述待测面上提供包括两相异波段的照射光,在所述待测面上取得二个目标检测区的影像资料; 将每一目标检测区的影像资料区分为相异两波段的一第一波段影像资料及一第二波段影像资料; 取得所述第一波段影像资料及所述第二波段影像资料各自对应的一准焦指数数值,并取得两数值间的一比值; 依据每一目标检测区所对应的所述比值,在对应的所述对比值查找表中寻找匹配的一高度位置参数;以及 依据所述二个目标检测区对应的所述高度位置参数之间的差异程度,取得所述待测面的倾斜状态, 其中,各所述对比值查找表是指:非在所述检测程序中所建立的一标准待测面,在一高度摆动范围内的各所述目标检测区于每一高度位置参数上所具有的比值信息; 其中,所述对比值查找表的建立是:对所述标准待测面上对应所述的二个目标检测区的匹配区,在所述高度摆动范围内,取得每一高度位置的二个所述匹配区对应的影像资料,并取得所述相异两波段下所各自对应的一准焦指数数值以及取得两数值间的一比值信息,每一比值信息所对应的一高度位置参数作为所述对比值查找表内的所述高度位置参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人致茂电子(苏州)有限公司,其通讯地址为:215129 江苏省苏州市高新区珠江路855号(第七号厂房);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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