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龙图腾网获悉相干(北京)科技有限公司申请的专利基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119294546B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411847908.6，技术领域涉及：G06N10/20；该发明授权基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法是由曾祥洪;金贻荣设计研发完成，并于2024-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法，其中该方法包括：确定量子电路中的量子电路操作的量子比特需求；基于所述量子比特需求为每个量子比特分配激活时间区间，设计控制脉冲序列；在所述激活时间区间内所述每个量子比特按照所述控制脉冲序列进行演化，实现动态量子电路。通过构建软拓扑结构，即量子比特根据模型计算激活时间，按需生成和释放量子比特，动态地激活和关闭量子比特，减少量子比特暴露在环境噪声中的时间，降低退相干和错误率，使量子计算整体的容错性得以提升，进而提高量子计算的可靠性。

本发明授权基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于量子芯片的软拓扑结构提升容错效率的方法，其特征在于，包括： 确定量子电路中的量子电路操作的量子比特需求，所述量子电路操作包括：量子门操作、测量操作和纠缠操作，所述量子比特需求是指执行量子电路操作时每个量子门操作所需的量子比特，不同操作所需要的量子比特需求也不相同； 基于所述量子比特需求在优化后的时变量子比特激活模型中为每个量子比特分配激活时间区间，设计控制脉冲序列，所述控制脉冲序列为量子比特的控制信号； 在所述激活时间区间内所述每个量子比特按照所述控制脉冲序列进行演化，实现动态量子电路；其中，在所述激活时间区间内，每个量子比特处于激活状态即按照预定的门操作对应执行，不在所述激活时间区间时，所述每个量子比特处于非激活状态即保持在基态或隔离态；进一步包括： 根据每个量子比特激活时间计算单个量子比特的物理错误率； 对于多个量子比特的系统，累加所有单个量子比特的物理错误率计算得到系统的总体物理错误率； 根据量子纠错码和总体的物理错误率计算得到逻辑错误率； 通过比较所述逻辑错误率与系统预设要求，评估容错效率； 根据所述评估容错效率结果调整量子比特激活时间和纠错码参数以优化系统性能； 所述优化后的时变量子比特激活模型训练步骤包括： 为量子电路中每个量子比特分配激活时间和关闭时间，其中，所述激活时间和所述关闭时间之间的时间区间为所述量子比特分配的所述激活时间区间； 定义量子比特激活函数，设计控制脉冲序列，所述每个量子比特按照所述控制脉冲进行状态演化，并计算演化的物理错误率； 在等效计算的前提下，基于预测最小的激活时间、门数量、电路深度、量子比特数量和物理错误率的目的构建目标函数，目标函数形式如下： minfG,D,Q,Pphys，ti,on,ti,off； 其中，G为门数量，D为电路深度，Q为量子比特数量，Pphys为物理错误率，ti,on为激活相应的量子比特时间，ti,off为关闭相应的量子比特时间； 根据目标函数构建损失函数，通过最小化损失函数以更新所述参数，输入量子电路多次训练至找到最优参数，实现用软拓扑的方式进行动态量子电路的优化，所述损失函数形式如下： LG,D,Q,Pphys＝αG+βD+γQ+δPphys+ε*ti,on+ζ*ti,off； 其中，α，β，γ，δ，ε，ζ为权重参数，G为门数量，D为电路深度，Q为量子比特数量，Pphys为物理错误率，ti,on为激活相应的量子比特时间，ti,off为关闭相应的量子比特时间。

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