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龙图腾网获悉广东工业大学申请的专利一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120160532B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510225293.1，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置及方法是由张聪;李金泽;付松年;李建平;秦玉文设计研发完成，并于2025-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光纤的技术领域，提出一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置及方法，包括光源发射端11、光环行器12、光谱仪13和旋转位移台14；所述光源发射端11与所述光环行器12的第一端口1相连，所述光环行器12的第二端口2与已剥去涂覆层的待测空芯光纤15的侧面对齐，已剥去涂覆层的待测空芯光纤15置于所述旋转位移台14中，所述光环行器12的第三端口3与所述光谱仪13相连；所述待测空芯光纤15为带隙空芯光纤或N层嵌套反谐振空芯光纤，其中，N为正整数；所述检测装置的组成简单，所述检测方法的操作方便、计算简单且具有良好的测量精确度。

本发明授权一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种空芯光纤尺寸结构参数的测量装置的测量方法，其特征在于，空芯光纤尺寸结构参数的测量装置包括：光源发射端11、光环行器12、光谱仪13和旋转位移台14； 所述光源发射端11与所述光环行器12的第一端口1相连，所述光环行器12的第二端口2与已剥去涂覆层的待测空芯光纤15的侧面对齐，已剥去涂覆层的待测空芯光纤15置于所述旋转位移台14中，所述光环行器12的第三端口3与所述光谱仪13相连； 所述待测空芯光纤15为带隙空芯光纤或层嵌套反谐振空芯光纤，其中，为正整数； 所述光源发射端11发射的光源为宽谱光源； 所述测量方法包括以下步骤： 令光源发射端11发射出光束，所述光束通过光环行器12的第一端口1传输至光环行器12的第二端口2，通过旋转位移台14对所述待测空芯光纤15进行旋转，使从光环行器12的第二端口2射出的光束正入射在已剥去涂覆层的待测空芯光纤15的侧面，待测空芯光纤15的侧面反射出反射光，所述反射光经光环行器12的第二端口2传输至光环行器12的第三端口3后，被所述光谱仪13接收； 利用所述光谱仪13获得所述反射光的干涉谱； 对所述干涉谱进行傅里叶变换得到干涉谱的时域谱，并对所述时域谱进行谐振峰峰值分析，基于谐振峰峰值分析结果确定待测空芯光纤15的尺寸结构参数与所述时域谱的各个谐振峰的对应关系； 基于所述对应关系和谐振峰的时间信息，计算得到待测空芯光纤15的尺寸结构参数； 对所述时域谱进行谐振峰峰值分析，基于谐振峰峰值分析结果确定待测空芯光纤15的尺寸结构参数与所述时域谱的各个谐振峰的对应关系的步骤包括： 基于所述待测空芯光纤15的结构确定所述反射光的光束总数，光束总数的表达式包括： 式中，为大于等于0的整数，当时，表示待测空芯光纤15为带隙空芯光纤；当为正整数时，，表示待测空芯光纤15为层嵌套反谐振空芯光纤； 基于光束总数确定所述时域谱的谐振峰总数，谐振峰总数的表达式包括： 设所述反射光中的第束光和第束光之间的光程差的绝对值是，其中，且，的总数等于； 当待测空芯光纤15为带隙空芯光纤时，，其中，表示所述待测空芯光纤15自外向内数的第一层结构的厚度，即包层的厚度，表示对应结构的折射率； 当待测空芯光纤15为层嵌套反谐振空芯光纤，且时，包括、和，其中，，，，表示所述待测空芯光纤15自外向内数的第二层结构的直径，即第一层嵌套管的直径；表示对应的嵌套管的折射率； 当待测空芯光纤15为层嵌套反谐振空芯光纤，且时，若，则，若，则，其中，表示所述待测空芯光纤15自外向内数的第层结构的直径与第层结构的直径之差；表示对应的嵌套管的折射率； 根据所述待测空芯光纤15的结构对按照数值自大到小的顺序进行排序； 对所述时域谱进行谐振峰峰值分析，获得个谐振峰的峰值，对个峰值按照数值自大到小的顺序进行排序，则峰值第大的谐振峰对应数值第大的，其中，为正整数且； 所述待测空芯光纤15的尺寸结构参数的表达式包括： 式中，表示对应的谐振峰的时间坐标值，表示对应的谐振峰的时间坐标值。

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