德中(深圳)激光智能科技有限公司;北京德智矩阵科技有限公司;江苏德智半导体科技有限公司;广东德智光学有限公司;广东德智视创科技有限公司曹峰获国家专利权
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龙图腾网获悉德中(深圳)激光智能科技有限公司;北京德智矩阵科技有限公司;江苏德智半导体科技有限公司;广东德智光学有限公司;广东德智视创科技有限公司申请的专利一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120726034B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511178134.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法和装置是由曹峰;何生茂;闫朋雷;周崇山设计研发完成，并于2025-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法和装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法和装置，其中方法包括对高密度PCB图像进行数据预处理，对预处理后图像进行深度可分离卷积，得到多个局部特征。对多个局部特征进行动态稀疏注意力计算，得到关键区域的特征。采用MobileViT轻量化卷积块融合不同关键区域的特征，对融合特征进行缺陷分类与定位预测，得到PCB缺陷检测结果。采用深度可分离卷积代替传统的卷积操作，引入动态稀疏注意力机制，采用特征重要性评估的方式动态生成掩码矩阵，可以实现关键区域的特征关联建模，同时减少非关键区域的冗余计算，在减少计算量的同时将大部分的注意力分配给微小缺陷。上述PCB缺陷检测方法在保证高检测精度的同时，降低了计算复杂度和模型参数量。
本发明授权一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种面向高密度PCB的轻量化Transformer缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取高密度PCB图像； 对所述高密度PCB图像进行数据预处理，得到预处理后图像，所述数据预处理包括归一化和尺寸调整； 对所述预处理后图像进行深度可分离卷积，得到多个局部特征； 对多个局部特征进行动态稀疏注意力计算，得到关键区域的特征； 采用MobileViT轻量化卷积块融合不同关键区域的特征，得到融合特征； 对所述融合特征进行缺陷分类与定位预测，得到PCB缺陷检测结果；其中，所述PCB缺陷检测结果包括高密度PCB图像的缺陷类型和缺陷位置。
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