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龙图腾网获悉济南晶芯半导体有限公司申请的专利一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064932B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510205789.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统是由王琮;吴禹设计研发完成，并于2025-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统，涉及半导体测试技术领域。本发明通过集成的测试控制模块自动初始化测试环境、配置测试信号，并根据用户输入的测试需求自动选择并配置相应的测试信号类型和参数。利用机械控制算法，系统能够自动连接和断开测试设备端口与功率放大器芯片的端口，从而消除了手动操作的烦琐和误差，提高了测试效率和准确性；本发明测试数据收集模块实时计算并记录GaN功率放大器的关键测试表现参数，对收集到的测试数据进行校准和分析计算，生成详细的测试结果数据，提供更全面的性能评估，帮助用户更深入地了解GaN功率放大器的性能特点。

本发明授权一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种GaN功率放大器芯片自动化测试系统，包括测试控制模块、测试数据收集模块和分析处理模块，其特征在于： 测试控制模块负责初始化测试环境，配置测试信号并控制待测试GaN功率放大器芯片与测试硬件设备的交互；对信号源生成的测试信号进行初始化，根据用户输入的测试需求选用对应的测试信号类型并配置其信号参数，测试信号类型包括正弦波、方波和三角波；使用机械控制算法控制测试设备端口与功率放大器芯片的端口，进行自动连接和断开控制；其中，用户输入的测试需求包括：频率响应、大信号测试、增益、线性度量、过载测试、频率带宽、频率成分处理和失真；当用户输入的测试需求为频率响应、增益或线性度量时，选用正弦波；当用户输入的测试需求为大信号测试或过载测试时，选用方波；当用户输入的测试需求为频率带宽、频率成分处理或失真时，选用三角波； 测试数据收集模块负责实时计算GaN功率放大器的测试表现参数，包括输出端电压、负载电阻、在各个测试信号频率f时的反射信号电压、在各个测试信号频率f时的入射信号电压、输入功率、输出功率； 分析处理模块负责对数据采集模块发来的测试指标数据进行运算处理，并生成相应的测试结果数据，包括输出特征功率、特征回波损耗、回波损耗回归异常参数、最大增益、增益幅度、增益相位和增益平坦度；其中回波损耗回归异常参数的运算过程为： 调整输入信号的频率f，调整范围为0，fmax，计算不同频率f对应的回波损耗，生成回波损耗-频率图，展示回波损耗随频率变化的图表； 通过预设的回归函数对回波损耗-频率图中回波损耗RLf与输入信号频率f的函数关系进行拟合，求解λ1、λ2、λ3和λ4的值；其中λ1、λ2、λ3和λ4是待求的回归拟合参数；是回波损耗-频率图中的最小回波损耗； 通过预设公式计算回波损耗回归异常参数ERL；其中、、和均为回归拟合参数的标准值。

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