泰尔茂株式会社相川亮桂获国家专利权
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龙图腾网获悉泰尔茂株式会社申请的专利成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114729923B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180006546.6，技术领域涉及：G01N33/483；该发明授权成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法是由相川亮桂设计研发完成，并于2021-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法在说明书摘要公布了：本发明提供的成分测定装置具有用于供配置有试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间，具备：发光部，在成分测定芯片被插入到芯片插入空间的状态下，对成分测定芯片射出照射光；受光部，接收透过或者反射的光；以及控制部，控制部能够以使用受光部中的受光强度的实测值，测定试样中的被测定成分的第一模式、和确认成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理，在受光部中的基准受光强度与在受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下，判定是否有要执行的处理模式错误的可能性。
本发明授权成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法在权利要求书中公布了：1.一种成分测定装置，是具有用于供配置有与试样中的被测定成分反应的试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间，上述成分测定装置具备： 发光部，在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间的状态下，向上述成分测定芯片射出照射光； 受光部，接收在上述成分测定芯片透过或者反射的光；以及 控制部， 上述控制部能够以使用上述受光部中的受光强度的实测值，测定上述试样中的被测定成分的第一模式、和确认该成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理， 在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间之后的上述成分测定芯片的测定点位于上述发光部与上述受光部之间的光路的时刻下的上述受光部中的基准受光强度、与在上述受光部接收的受光强度的移动平均值之差超过规定值的情况下，上述控制部判定是否有要执行的处理模式错误的可能性。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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