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浙江天正电气股份有限公司徐丽玲获国家专利权

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龙图腾网获悉浙江天正电气股份有限公司申请的专利信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114499521B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210148901.X,技术领域涉及:H03M1/10;该发明授权信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质是由徐丽玲;陈伟亮;高平;沈国峰;陈广哲;徐明;陈晓军;阳丹红设计研发完成,并于2022-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。

信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供一种信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质,信号校准方法应用于MCU,MCU与基准电压产生电路连接,基准电压产生电路用于向MCU输入基准电压信号,包括:接收并采集基准电压信号,得到第一基准电压采样值;接收并采集基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号,得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值;根据第一基准电压采样值、第二基准电压采样值、第一ADC采样值及预设真实值,生成MCU的校准系数;接收并采集基准电压信号和待测信号,得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值;根据第一基准电压采样值、第三基准电压采样值、第二ADC采样值及校准系数,校准待测信号的采样值,得到待测信号的真实值。

本发明授权信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种信号校准方法,其特征在于,应用于MCU,所述MCU与基准电压产生电路连接,所述基准电压产生电路用于向所述MCU输入基准电压信号,包括: 接收并采集所述基准电压信号,得到第一基准电压采样值; 接收并采集所述基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号,得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值; 根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值,生成所述MCU的校准系数; 接收并采集所述基准电压信号和待测信号,得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值; 根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数,校准所述待测信号的采样值,得到所述待测信号的真实值; 其中,所述根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值,生成所述MCU的校准系数,包括: 根据所述第一基准电压采样值及所述第二基准电压采样值,得到所述检测信号的第一补偿系数;第一补偿系数计算公式为:Kc1=Vref_ADC0Vref_ADC1,式中,Kc1为所述第一补偿系数,Vref_ADC0为所述第一基准电压采样值,Vref_ADC1为所述第二基准电压采样; 根据所述第一补偿系数及所述第一ADC采样值,得到所述检测信号补偿后的ADC采样值;所述检测信号补偿后的ADC采样值的计算公式为:ADC_real0=ADC1×Kc1,式中,ADC_real0为所述检测信号补偿后的ADC采样值,ADC1为所述第一ADC采样值; 根据所述检测信号补偿后的ADC采样值及所述预设真实值,生成所述MCU的校准系数;所述校准系数的计算公式为:K=Real_value0ADC_real0,式中,K为所述校准系数,Real_value0为所述预设真实值,ADC_real0为所述检测信号补偿后的ADC采样值; 其中,所述根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数,校准所述待测信号的采样值,得到所述待测信号的真实值,包括: 根据所述第一基准电压采样值及所述第三基准电压采样值,得到所述待测信号的第二补偿系数;所述第二补偿系数的计算公式为:Kc2=Vref_ADC0Vref_ADCx,式中,Kc2为所述第二补偿系数,Vref_ADCx为所述第三基准电压采样值; 根据所述第二ADC采样值、所述第二补偿系数及所述校准系数,校准所述待测信号的采样值,得到所述待测信号的真实值;所述待测信号的真实值的计算公式为:Real_value=Real_ADCx×Kc2×K,式中,Real_value为所述待测信号的真实值,Real_ADCx为所述第二ADC采样值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人浙江天正电气股份有限公司,其通讯地址为:325604 浙江省温州市乐清市柳市镇苏吕工业区;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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