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龙图腾网获悉西安交通大学申请的专利电抗器绝缘故障光学推扫定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114859148B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210058758.5，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电抗器绝缘故障光学推扫定位方法是由王彬;任明;李琛;李乾宇;李易;董明设计研发完成，并于2022-01-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本电抗器绝缘故障光学推扫定位方法在说明书摘要公布了：电抗器绝缘故障光学推扫定位方法，支承梁连接传动装置以在传动装置致动下周期性推扫；采集不同光源下电抗器底部平面的圆形区域的光强分布，提取圆形区域的灰度图像，得到圆形区域的数据矩阵；基于图像变换将圆形区域的数据矩阵沿半径方向展开，通过数据填充转换成矩形的数据矩阵，展开后圆形的周长变为了长方形的长，圆形的半径变为了长方形的宽，圆心的数据通过数据复制，变成了长方形的另一边的长，圆形区域的数据矩阵变成了矩形的数据矩阵且矩形的数据矩阵每一列都是圆形区域的数据矩阵沿半径上的数据；基于主成分分析法对矩形的数据矩进行数据降维分析以提取特征点，多个SiC紫外日盲传感器探头按照特征点的位置线型非均匀排布于支承梁。

本发明授权电抗器绝缘故障光学推扫定位方法在权利要求书中公布了：1.一种电抗器绝缘故障光学推扫定位方法，其特征在于，其包括如下步骤， 底座设于电抗器内且所述底座中心与所述电抗器的中心轴线共线，传动装置垂直地转动连接所述底座以周期性转动，支承梁连接所述传动装置以在所述传动装置致动下周期性推扫，周期性推扫的推扫周期为工频周期的整数倍时间； 采集不同光源下电抗器底部平面的圆形区域的光强分布，提取圆形区域的灰度图像，剔除圆形区域外的空白数据后，得到圆形区域的数据矩阵； 基于图像变换将圆形区域的数据矩阵沿半径方向展开，通过数据填充转换成矩形的数据矩阵，展开后圆形的周长变为了长方形的长，圆形的半径变为了长方形的宽，圆心的数据通过数据复制，变成了长方形的另一边的长，圆形区域的数据矩阵变成了矩形的数据矩阵且矩形的数据矩阵每一列都是所述圆形区域的数据矩阵沿半径上的数据； 基于主成分分析法对矩形的数据矩进行数据降维分析以提取特征点，多个SiC紫外日盲传感器探头按照特征点的位置线型非均匀排布于所述支承梁，所述线型非均匀排布的形式实时采集所述电抗器发出的紫外信号且转换为电压信号，所述多个SiC紫外日盲传感器探头在远离周期性推扫的圆心方向上逐渐分布变密，SiC紫外日盲传感器探头实时采集电抗器内部放电发射的紫外日盲频段的光学信号，所述多个SiC紫外日盲传感器探头为紫外日盲的SiC雪崩二极管APD传感器阵列，SiC雪崩二极管APD传感器阵列的波段包括200nm-400nm，其响应能量下限为1nWcm2，增益为105-106。

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