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龙图腾网获悉东莞方孺光电科技有限公司申请的专利可见光波段半导体激光器微透镜装调装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115102024B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210715233.4，技术领域涉及：H01S5/00；该发明授权可见光波段半导体激光器微透镜装调装置是由张辰;刘大巍;孙婷婷;董洪斌;王一设计研发完成，并于2022-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本可见光波段半导体激光器微透镜装调装置在说明书摘要公布了：可见光波段半导体激光器微透镜装调装置，属于半导体激光光学装调技术领域，在光学平台上设置有六维光学调整架、氦氖激光系统、成像监控系统、光斑图像采集系统、光束质量检测系统、分光镜、聚焦镜Ⅰ、聚焦镜Ⅱ以及激光器热沉，光学调整架上设置有镜片夹具，激光器热沉上设置有半导体激光器。本发明利用氦氖激光器发出的激光调节微透镜的角度，再利用半导体激光器发出的激光经过微透镜后照射在光束质量分析仪上测试的指标，及照射到CMOS上被采集的图像，将微透镜调节到最佳位置，具有较高的装调精度。

本发明授权可见光波段半导体激光器微透镜装调装置在权利要求书中公布了：1.可见光波段半导体激光器微透镜装调装置，包括光学平台10，其特征是：所述光学平台10上设置有六维光学调整架1、氦氖激光系统3、成像监控系统4、光斑图像采集系统5、光束质量检测系统6、分光镜7、聚焦镜Ⅰ8、聚焦镜Ⅱ9以及激光器热沉11，所述光学调整架1上设置有镜片夹具2，所述激光器热沉11上设置有半导体激光器12，所述半导体激光器12发光点、分光镜7的中心点、聚焦镜Ⅱ9的中心点与光束质量检测系统6接收检测光束点在同一轴线Ⅰ上；所述分光镜7的镜面与轴线Ⅰ成45°；所述光束质量检测系统6包括光束质量分析仪61、检测系统支架62以及检测系统底座63，所述检测系统底座63通过螺丝固定在光学平台10表面的螺纹孔上；检测系统支架62通过螺丝与检测系统底座63连接；光束质量分析仪61通过螺丝与检测系统支架62连接；所述分光镜7中心、聚焦镜Ⅰ8中心、以及光斑图像采集系统5的焦点在同一轴线Ⅱ上，轴线Ⅱ与轴线Ⅰ在同一水平面内，且相互垂直；所述光斑图像采集系统5包括CMOS感光元件51、采集系统支架52以及采集系统底座53，所述采集系统底座53通过螺丝固定在光学平台10表面的螺纹孔上；所述采集系统支架52通过螺丝与采集系统底座53连接；所述CMOS感光元件51通过螺丝与采集系统支架52连接；所述氦氖激光系统3包括氦氖激光器31、氦氖激光器支架32、以及氦氖激光器夹具33，所述氦氖激光器支架32通过螺丝固定在光学平台10表面的螺纹孔上；所述氦氖激光器夹具33一端夹持氦氖激光器支架32，另一端夹持氦氖激光器31；所述氦氖激光器31出射激光与光学平台10表面平行；所述成像监控系统4包括相机及镜头41、成像系统支架42、成像系统底座43以及成像系统夹具44，所述成像系统底座43通过螺丝固定在光学平台10表面的螺纹孔上；所述成像系统支架42为两根十字交叉的圆杆，通过连接件连接，竖直方向圆杆插入成像系统底座43，并通过螺丝箍紧，水平方向圆杆通过螺丝与成像系统夹具44连接；所述成像系统夹具44夹持成像相机及镜头41；所述相机及镜头41对下方半导体激光器12发光点附近图像进行成像拍摄；所述半导体激光器12的出射激光经过分光镜7，400-700nm的可见光分成反射光和透射光，反射光经过聚焦镜Ⅰ8照射到CMOS感光元件51上，透射光经过聚焦镜Ⅱ9照射到光束质量分析仪61的检测孔上；利用所述氦氖激光器31发出的激光调节微透镜的角度，再利用半导体激光器12发出的激光经过微透镜后照射在光束质量分析仪61上测试的指标，及照射到CMOS感光元件51上被采集的图像，将微透镜调节到最佳位置。

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