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北京理工大学;北京理工大学重庆创新中心田卫明获国家专利权

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龙图腾网获悉北京理工大学;北京理工大学重庆创新中心申请的专利一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115524703B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210743837.X,技术领域涉及:G01S13/90;该发明授权一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法是由田卫明;谢鑫;邓云开;胡程设计研发完成,并于2022-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法,利用外部DEM数据,将图像划分为两种不同类型的区域,分别采取不同的配准策略,实现小型无人机载InSAR干涉图像对的高精度配准。使用本发明能够实现高精度配准,同时提高配准效率,为地形测绘提供了高精度的反演结果。

本发明授权一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法在权利要求书中公布了:1.一种利用外部DEM的小型无人机载InSAR干涉图像对配准方法,其特征在于,包括: 构建成像空间直角坐标系,在同一成像直角坐标系下,对两组SAR回波数据分别采用后向投影算法进行成像处理; 将获取的DEM转换到相应的成像空间直角坐标系下; 将转换后的DEM进行分块处理,分成接近成像平面的小高程区域和远离成像平面的大高程地形区域,将分块后的结果进行连通域分析,剔除面积较小的部分; 以任一图像为主图像,选取主图像中小高程区域内信噪比较高的点作为参考点,基于窗口匹配,计算参考点在主辅图像间的偏移量;通过拟合,获取该区域的全局配准偏移量,建立主辅图像坐标的映射关系,对辅图像插值,实现小高程区域的配准; 对于大高程区域,利用转换后的DEM和两次航迹信息联合解算配准偏移量,对辅图像进行插值重采样,实现粗配准;选取粗配准后的相关系数高的像素点作为参考点,获取各连通域的全局配准偏移量;对辅图像进行插值,实现大高程区域的配准; 所述利用转换后的DEM和两次航迹信息联合解算配准偏移量的步骤,包括: 取第一次航迹,将非线性航迹进行线性拟合,将DEM上的每个地形点绕着线性航迹旋转,与成像平面在距离向正方向的交点,即为地形点在该非线性航迹下的投影点位置; 取第二次航迹重复上述操作,得到地形点在第二次航迹下的投影点位置; 两次得到的投影点位置做差,即可得到利用转换后的DEM和两次航迹信息联合解算的配准偏移量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京理工大学;北京理工大学重庆创新中心,其通讯地址为:100081 北京市海淀区中关村南大街5号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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