上海交通大学黄靖正获国家专利权
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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利基于弱测量的噪声谱探测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115962841B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310094034.0，技术领域涉及：G01H9/00；该发明授权基于弱测量的噪声谱探测方法及系统是由黄靖正;石广健;李洪婧;曾贵华设计研发完成，并于2023-02-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于弱测量的噪声谱探测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于弱测量的噪声谱探测方法及系统，包括：步骤1：搭建噪声谱探测的量子弱测量光学平台，在弱耦合过程中引入噪声，产生时变的相位参量，步骤2：确定需要探测的频率位置f,并据此调整两路后选择态。步骤3：通过光谱仪接收经过弱测量的光谱中心，计算频率f处的噪声谱。步骤4：重复执行步骤2和步骤3，实现对噪声功率谱的实时探测。步骤5：待测量结束后，根据实际需要对估计结果进行数据处理。本发明弥补了现有噪声探测技术带宽小，容易产生混叠失真的缺陷,利用了弱值放大技术，可以达到非常高的灵敏度和精度,并且拓展了以弱测量为理论基础的众多测量系统的应用场景，可以延伸到含噪信号恢复的场景。
本发明授权基于弱测量的噪声谱探测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于弱测量的噪声谱探测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 步骤S1：搭建噪声谱探测的量子弱测量光学平台，并在弱耦合过程中引入噪声，产生时变的相位参量； 步骤S2：确定需要探测的频率位置f，并根据此调整两路后选择态； 步骤S3：通过光谱仪接收经过弱测量的光谱中心，计算频率f处的噪声谱； 步骤S4：重复执行步骤S2和步骤S3，对噪声功率谱进行实时探测； 步骤S5：待测量结束后，根据实际需要对估计结果进行数据处理； 所述步骤S3中，采用光子的中心频率作为探测指标用光谱仪进行检测，光谱仪探测时间为T，则光谱仪的输出为收集数据进行高精度的噪声功率谱的估计； 对应于后选择态|f1t和|f2t的两路光谱仪输出pfT，分别计算出以及应于这时噪声对应频率f的频谱的实部和虚部，计算出噪声对应频率f的频谱
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