成都理工大学霍宇翔获国家专利权
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龙图腾网获悉成都理工大学申请的专利一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116379930B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310147933.2,技术领域涉及:G01B11/02;该发明授权一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法及系统是由霍宇翔;李远;郝英慧;刘晨曦;张景涛;朱曦;李宏福;黄聪设计研发完成,并于2023-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法及系统,通过获得光源在多个不同角度的照射下,经岩块顶点投影到地面的角度差,以及获得每个光源照射下,摄像装置在平行于投影平面的平面上进行拍摄获得的岩块图像;基于所述岩块图像,获得检测轮廓图像;对多个检测岩块轮廓、多个检测阴影轮廓进行相关性运算,获得相关轮廓;基于相关轮廓获得阴影长度;基于所述阴影长度和所述角度差,获得岩块高度。可直接根据不同角度下的阴影图像信息确定岩块高度,操作简单、方便就可以检测出岩块的高度,同时检测精度高。且对于不同的场景都可以通过上述方案获得待测物岩块的高度,实际适用性强。
本发明授权一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种在不同角度下通过阴影确定岩块高度的方法,其特征在于,包括: 获得光源在多个不同角度的照射下,经岩块顶点投影到地面的角度差,以及获得每个光源照射下,摄像装置在平行于投影平面的平面上进行拍摄获得的岩块图像;其中,岩块图像中包含岩块和阴影;光源在多个不同角度的照射下,对应获得多张岩块图像; 基于所述岩块图像,获得检测轮廓图像;每张岩块图像对应获得张检测轮廓图像,每张检测轮廓图像包含一个检测岩块轮廓和一个检测阴影轮廓;多张岩块图像对应获得多个检测岩块轮廓和多个检测阴影轮廓; 对多个检测岩块轮廓、多个检测阴影轮廓进行相关性运算,获得相关轮廓; 基于相关轮廓获得阴影长度; 基于所述阴影长度和所述角度差,获得岩块高度; 对多个检测岩块轮廓、多个检测阴影轮廓进行相关性运算,获得相关轮廓,包括: 针对第一检测轮廓图像,将多张检测轮廓图像中区别于第一检测轮廓图像的任意一张其他的检测轮廓图像与第一检测轮廓图像进行布尔运算,获得相关图像; 其中,相关图像中含有三个相关轮廓,三个相关轮廓包含相关岩块轮廓、相关第一阴影轮廓和相关第二阴影轮廓;其中,相关岩块轮廓对应第一检测轮廓图像中的检测岩块轮廓,相关第一阴影轮廓对应第一检测轮廓图像中的检测阴影轮廓,相关第二阴影轮廓对应与第一检测轮廓图像进行布尔运算的检测轮廓图像中的检测阴影轮廓。
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