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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116380953B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310293971.9，技术领域涉及：G01N23/2055；该发明授权双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统是由钟圣怡;盛普聪;王柏桦;林皓设计研发完成，并于2023-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统，应用于双相单晶材料的中子X射线衍射二维面探测器数据分析，通过逐像素提取探测器中各点衍射强度与位向信息，并利用沿η方向积分获取的一维摇摆曲线，分离得到各亚晶粒对应的二维衍射数据，最后利用二维双高斯函数对二维衍射数据进行拟合，定量分析亚晶粒中两相的晶面间距与取向信息。本发明解决了分别由亚晶粒以及两相结构所引起的二维衍射信号重叠而导致的难以分峰的问题。

本发明授权双相单晶材料的二维衍射数据处理方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种双相单晶材料的二维衍射数据处理方法，其特征在于，包括： 步骤1：建立正交坐标系x，y，z，原点为实验的光学中心，x轴正方向与入射中子X射线的方向重合，z轴方向竖直向上，根据右手定则确定y轴方向，根据衍射几何，计算二维面探测器中各像素点的位向信息θ，η，θ为探测器中单个像素点和光学中心的连线与入射中子X射线的夹角，η为单个像素点和探测器中心的连线与z轴正方向的夹角，定义顺时针为正方向，设二维面探测器上像素点的数量为N1×N2，则位向信息通过两个N1×N2的矩阵表示，记为Θ与H； 步骤2：结合衍射几何与位向信息，设置立体角因子、偏振因子与吸收因子三个强度校准因子，对原始衍射强度进行校准，形成N1×N2大小的衍射强度矩阵Cθ，η； 步骤3：沿η方向进行积分，获得单晶样品的摇摆曲线，通过确定单晶样品中亚晶粒的数量M，利用混合高斯函数对摇摆曲线进行拟合分析，获得摇摆曲线参数，包括各亚晶粒的峰位ηRC，j、标准差uRC，j、峰强bRC，j以及底噪bRC，其中，1≤j≤M， 步骤4：利用各亚晶粒的摇摆曲线参数，将衍射强度矩阵分离成M个N1×N2大小，代表各亚晶粒的二维衍射强度矩阵Cjθ，η，实现对亚晶粒衍射信号的二维分离； 步骤5：利用二维双高斯函数对二维衍射数据分离后的各亚晶粒的二维衍射强度矩阵进行拟合分析，获得各个亚晶粒内两相的二维衍射参数； 步骤6：利用衍射几何，结合各个亚晶粒内两相的二维衍射参数，计算各亚晶粒中两相的晶面间距与取向信息。

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