中国科学院西安光学精密机械研究所朱香平获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116934617B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310784291.7，技术领域涉及：G06T5/90；该发明授权一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法是由朱香平;赵卫设计研发完成，并于2023-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种图像质量改善方法，具体涉及一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法。解决了现有EBCMOS探测器件成像产生的光晕难以改善的技术问题。本发明方法包括以下步骤：1对图像进行采样得到电子群；2特征识别；2.1识别系统将各采样点的电子群识别并分离成多个H×F像素大小的小簇；2.2采用类间方差法，确定分割光晕与目标的光晕簇B，光晕簇B的灰度均值为b；3采用全局自动阈值比较法，将小簇的灰度均值与光晕簇B的灰度均值b进行第一级比较，过滤掉光晕簇，留下目标簇等待第二级比较；4利用粒子群算法，对过滤掉光晕簇的目标簇进行第二级比较，消除背向散射簇；5输出优化后的小簇，重构出低光晕的目标图像。
本发明授权一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法在权利要求书中公布了：1.一种降低EBCMOS增益图像光晕的方法，其特征在于，包括以下步骤： 1对图像进行采样得到电子群； 1.1读入仿真图像；设置仿真参数； 1.2对图像进行采样；每个像素作为一个采样点； 1.3每个采样点按照泊松分布规律向外辐射光子； 1.4探测系统接收采样点辐射的光子，并将光子转变成电子，获得电子群； 2特征识别 2.1识别系统识别各采样点的电子群，并将电子群分离成多个H×F像素大小的小簇，H、F均为正整数； 2.2采用类间方差法，确定分割光晕与目标的光晕簇B，光晕簇B的灰度均值为b； 3采用全局自动阈值比较法，将小簇的灰度均值与光晕簇B的灰度均值b进行第一级比较，过滤掉光晕簇，留下目标簇等待第二级比较； 4利用粒子群算法，对过滤掉光晕簇的目标簇进行第二级比较，消除背向散射簇； 5输出优化后的小簇，重构出低光晕的目标图像。
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