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龙图腾网获悉北京兆维智能装备有限公司申请的专利一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117197527B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310924744.1，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置是由张莲莲;靳松;陈晨;李韦辰;陈永超;张建树设计研发完成，并于2023-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置，属于图像处理技术领域，包括：获取待检测图像，对待检测图像进行目标区域识别处理,得到待检测图像的检测区域；对所述检测区域进行划分，得到多块单个屏幕显示区；分别对多块所述单个屏幕显示区的光学采集图进行数据增强，得到多个数据增强图，分别对多个所述数据增强图进行阈值计算，得到多个缺陷二值图；训练缺陷分类模型，将多个所述缺陷二值图输入训练好的缺陷分类模型，利用训练好的缺陷分类模型对缺陷二值图进行缺陷识别分类，分别得到多个所述缺陷二值图的缺陷分类结果。本发明用于检测玻璃基板的缺陷类型。

本发明授权一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种液晶显示屏的玻璃基板的缺陷检测分类方法,其特征在于，包括： S1：获取待检测图像，对待检测图像进行目标区域识别处理,得到待检测图像的检测区域； S2：对所述检测区域进行划分，得到多块单个屏幕显示区； S3：分别对多块所述单个屏幕显示区的光学采集图进行数据增强，得到多个数据增强图，分别对多个所述数据增强图进行阈值计算，得到多个缺陷二值图，具体为： S3.1：获取特征区域中的单个屏幕显示区的光学采集图； S3.2：对所述光学采集图进行对比度增强，得到数据增强图； S3.3：基于自适应阈值方法，根据自适应阈值方法中的分割阈值将数据增强图中的像素点划分为目标像素点和背景像素点，并计算目标像素点和背景像素点分别在数据增强图中的比例；其中，计算目标像素点和背景像素点分别在数据增强图中的比例的公式如下式所示： 其中，ω1表示目标像素点在数据增强图中的比例，ω2表示背景像素点在数据增强图中的比例，且ω1+ω2＝1；M×N表示数据增强图的大小，且M×N＝N1+N2，具体的，N1表示数据增强图中像素灰度大于分割阈值的像素个数；N2表示数据增强图中像素灰度小于分割阈值的像素个数； S3.4：根据目标像素点和背景像素点分别在数据增强图中的比例，计算数据增强图的总平均灰度；其中，计算数据增强图的总平均灰度的公式如下式所示： μ＝μ1×ω1+μ2×ω2 其中，μ表示数据增强图的总平均灰度；μ1表示目标像素点的平均灰度；μ2表示背景像素点的平均灰度； S3.5：根据数据增强图的总平均灰度计算类间方差，遍历类间方差的最大值，将类间方差的最大值作为像素点的局部二值化阈值；其中，计算类间方差的公式如下式所示： g＝ω1×μ-μ12+ω2×μ-μ22； 其中，g为类间方差； S3.6：通过所述局部二值化阈值对所述数据增强图进行处理，得到缺陷二值图； S4：训练缺陷分类模型，将多个所述缺陷二值图输入训练好的缺陷分类模型，利用训练好的缺陷分类模型对缺陷二值图进行缺陷识别分类，分别得到多个所述缺陷二值图的缺陷分类结果。

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