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龙图腾网获悉鸿海精密工业股份有限公司申请的专利瑕疵侦测方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117274133B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210654056.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权瑕疵侦测方法、电子设备及存储介质是由卢志德;李宛真;郭锦斌设计研发完成，并于2022-06-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本瑕疵侦测方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及图像处理，提供一种瑕疵侦测方法、电子设备及存储介质。所述瑕疵侦测方法包括：获取待测样本图像、瑕疵图像及无瑕疵图像，基于瑕疵图像及无瑕疵图像得到多个瑕疵检测精度，将待测样本图像划分为多个待测区域；基于瑕疵图像从多个构建的学习器中选取每个瑕疵检测精度对应的自编码器；基于无瑕疵图像对对应的自编码器进行训练，得到多尺度自编码器模型；将每个待测区域分割的多个待测图像块输入到对应的多尺度自编码器模型中，得到多个重构图像块；计算每个重构图像块与对应的待测图像块之间的重建误差值，并生成待测样本图像中待测样本的侦测结果。利用上述申请，准确地对图像中不同大小的瑕疵进行侦测。

本发明授权瑕疵侦测方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种瑕疵侦测方法，其特征在于，所述瑕疵侦测方法包括： 获取产品的待测样本图像、瑕疵图像及无瑕疵图像； 将所述待测样本图像划分为多个待测区域，并基于每个待测区域在所述瑕疵图像中对应的瑕疵区域与在所述无瑕疵图像中对应的无瑕疵区域的相似值，确定所述每个待测区域对应的瑕疵检测精度； 构建多个学习器，包括：构建大小为多个尺度的潜在空间，根据每个尺度及所述待测图像块的图像尺寸进行运算，得到多个运算结果，对于每个尺度，根据所述多个运算结果构建相应数量的隐层作为编码器，并构建相应数量的运算层作为解码器，根据每个尺度的编码器、潜在空间及解码器生成所述多个学习器； 从所述多个学习器中选取与每个瑕疵检测精度对应的自编码器； 基于所述无瑕疵图像对每个自编码器进行训练，得到多尺度自编码器模型； 将每个待测区域分割为多个待测图像块，并将所述多个待测图像块输入到对应的多尺度自编码器模型中，得到多个重构图像块； 计算每个重构图像块与对应的待测图像块之间的重建误差值； 基于所述重建误差值确定所述待测样本图像中的待测样本的检测结果。

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