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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学重庆研究院;哈尔滨工业大学申请的专利薄膜电容图像预检方法及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117274161B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311047454.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权薄膜电容图像预检方法及电子设备是由张元;陈皓天;杨再学;陈斌设计研发完成，并于2023-08-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本薄膜电容图像预检方法及电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种薄膜电容图像预检方法及电子设备。方法包括：对原始图像进行压缩，得到经过压缩的第一图像；通过预设的边缘提取算法，从第一图像中提取轮廓信息，并对该轮廓信息进行拟合，得到具有连通轮廓的第二图像；从第二图像中选择包围面积最大的目标轮廓；从目标轮廓中确定角点的第一位置坐标；根据预设插值算法及预设压缩比例，将第二图像中的角点的第一位置坐标，转换为原始图像上对应角点的第二位置坐标；从原始图像上的裁剪得到包含矩形定位标的图区，并从该图区中确定矩形定位标的轮廓；根据矩形定位标的轮廓，确定原始图像中基膜的倾斜角度。如此，可以实现图像中基膜倾斜角度的自动预检，提高图像预检的效率与检测的可靠性。

本发明授权薄膜电容图像预检方法及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种薄膜电容图像预检方法，其特征在于，所述方法包括： 获取拍摄基膜得到的原始图像，其中，所述基膜包括位于所述基膜角点部位的矩形定位标以及用于制作薄膜电容的呈阵列排布的多个电极片； 基于预设压缩比例，对所述原始图像进行压缩，得到经过压缩的第一图像； 通过预设的边缘提取算法，从所述第一图像中提取轮廓信息； 对所述第一图像中的所述轮廓信息进行拟合，得到具有连通轮廓的第二图像； 从所述第二图像中选择包围面积最大的轮廓，作为所述基膜的目标轮廓； 从所述目标轮廓中确定角点的第一位置坐标； 根据预设插值算法及所述预设压缩比例，将所述第二图像中的所述角点的第一位置坐标，转换为所述原始图像上对应角点的第二位置坐标； 基于所述第二位置坐标及第一预设裁剪框，从所述原始图像上的裁剪得到包含所述矩形定位标的图区，以作为第一感兴趣区域； 从所述第一感兴趣区域中，确定所述矩形定位标的轮廓； 根据所述矩形定位标的轮廓，确定所述矩形定位标的倾斜角度，以作为所述原始图像中所述基膜的倾斜角度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人哈尔滨工业大学重庆研究院;哈尔滨工业大学，其通讯地址为：401120 重庆市渝北区联合产业孵化基地协同创新区3期；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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