华中科技大学傅邱云获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117288351B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311390692.0,技术领域涉及:G01K15/00;该发明授权一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法是由傅邱云;施竞峰;周东祥设计研发完成,并于2023-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法,属于电子电路领域,包括:单片机、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构、峰值电压表、直流稳压电源及IGBT脉冲开关;热敏电阻通道并联结构为多路并联热敏电阻通道,每路热敏电阻通道包括第一控制开关,第一控制开关和待测热敏电阻串联;标准电阻通道并联结构为多路并联的标准电阻通道,每路标准电阻通道包括串联的第二控制开关和标准电阻;直流稳压电源、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构及IGBT脉冲开关形成串联回路。本发明简化了热敏电阻测试流程,可以有效控制测量误差,提高测量精度与可靠性,多通道测量提升测量效率,减少了测试时间与测试成本。
本发明授权一种多通道热敏电阻电压效应测试电路、系统及测试方法在权利要求书中公布了:1.一种多通道热敏电阻电压效应测试电路,其特征在于,包括:单片机1、热敏电阻通道并联结构、标准电阻通道并联结构、峰值电压表6、直流稳压电源8及IGBT脉冲开关9; 所述热敏电阻通道并联结构为多路并联热敏电阻通道,每路所述热敏电阻通道包括第一控制开关2,所述第一控制开关2和待测热敏电阻3串联; 所述标准电阻通道并联结构为多路并联的标准电阻通道,每路所述标准电阻通道包括串联的第二控制开关4和标准电阻5,其中,所述标准电阻通道中的所述标准电阻5为不同阻值档位的标准电阻; 所述直流稳压电源8、所述热敏电阻通道并联结构、所述标准电阻通道并联结构及所述IGBT脉冲开关9形成串联回路;所述单片机1与所述IGBT脉冲开关9、所述第一控制开关2及所述第二控制开关4连接; 所述峰值电压表6分别用于测量所述热敏电阻通道并联结构两端的电压及测试电路的总电压。
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