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龙图腾网获悉北京微电子技术研究所;北京时代民芯科技有限公司申请的专利评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117761516B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311423998.1，技术领域涉及：G01R31/311；该发明授权评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法及系统是由于春青;张彦龙;李同德;王亚坤;王亮;宋立国;岳素格;苑靖爽;孙雨;朱永钦设计研发完成，并于2023-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法，包括：使可重构芯片执行一个典型测试程序；分别对可重构芯片中的各功能模块进行激光辐照试验，获取各功能模块的单粒子功能错误饱和截面；使可重构芯片执行下一个典型测试程序，并重复上述步骤，直至执行完所有的典型测试程序；根据各典型测试程序下的单粒子功能错误饱和截面，得到各功能模块的单粒子功能错误敏感区间。本发明还公开了评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的系统，包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块。本发明能够得到可重构芯片的单粒子功能错误敏感区间，对于可重构芯片整体性能的评估提供重要支撑。

本发明授权评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种评估可重构芯片单粒子功能错误敏感区间的方法，其特征在于，包括： S1使可重构芯片执行一个典型测试程序； S2分别对可重构芯片中的各功能模块进行激光辐照试验，获取各功能模块的单粒子功能错误饱和截面；功能模块包括PE处理单元阵列、片上互连网络和控制器； S3使可重构芯片执行下一个典型测试程序，并重复步骤S2，直至执行完所有的典型测试程序； S4根据各典型测试程序下的单粒子功能错误饱和截面，得到各功能模块的单粒子功能错误敏感区间； 典型测试程序的数量≥3； 多个典型测试程序对各功能模块的资源使用率均不相同，至少存在一个典型测试程序对各功能模块的资源使用率小于各功能模块真实工作情况下的资源使用率下限，至少存在另一个典型测试程序对各功能模块的资源使用率大于各功能模块真实工作情况下的资源使用率上限； 步骤S4中，根据各典型测试程序下的单粒子功能错误饱和截面，得到各功能模块的单粒子功能错误敏感区间的方法包括： 假设典型测试程序共n个，将括PE处理单元阵列、片上互连网络和控制器在各典型测试程序下得到的单粒子功能错误饱和截面分别记为σSPE1……σSPEn、σSI1……σSIn和σSC1……σSCn； 令σSPEmax＝max{σSPE1……σSPEn},σSPEmin＝min{σSPE1……σSPEn}； σSImax＝max{σSI1……σSIn},σSImin＝min{σSI1……σSIn}； σSCmax＝max{σSC1……σSCn}，σSCmin＝min{σSC1……σSCn}； PE处理单元阵列、片上互连网络和控制器的单粒子功能错误敏感区间分别为[σSPEmin,σSPEmax]、[σSImin,σSImax]和[σSCmin,σSCmax]。

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