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龙图腾网获悉北京航天计量测试技术研究所申请的专利基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119023624B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410903667.6，技术领域涉及：G01N21/59；该发明授权基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置是由张永超;缪寅宵;张铁犁;王宗军;高小强;张志涛;刘浩;葛萌;徐永垚设计研发完成，并于2024-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置，该方法为：步骤一，量子光源发出的纠缠光或压缩光经过准直、光隔离以及偏振态转换后，经分光后分别入射到参考腔与测量腔，其中，参考腔和测量腔均由并列布置的两个SPDC晶体组成，且参考腔与测量腔均放置于真空气室内部，真空气室内充入待测气体；参考腔的两个SPDC晶体之间的距离和测量腔的两个SPDC晶体之间的最近距离不同；步骤二，从参考腔与测量腔出射的激光分别经过滤光，滤除泵浦光后进行聚焦，再分别入射到分光镜，经过分光镜的激光分为透射光和反射光，两束透射光由CCD相机进行探测接收，分析其干涉图样获得待测气体浓度值；两束反射光由频率计探测接收，通过分析真空气室充入待测气体前后的双腔拍频获得待测气体折射率数值。本发明能够实现气体折射率和气体浓度的同时测量，并解决对气体折射率与气体浓度高灵敏度检测的问题。

本发明授权基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置在权利要求书中公布了：1.一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，该方法的具体步骤为： 步骤一，量子光源发出的纠缠光或压缩光经过准直、光隔离以及偏振态转换后，经分光后分别入射到参考腔与测量腔，其中，参考腔和测量腔均由并列布置的两个SPDC晶体组成，且参考腔与测量腔均放置于真空气室内部，工作时，真空气室内充入待测气体；参考腔的两个SPDC晶体和测量腔的两个SPDC晶体厚度相同，但参考腔的两个SPDC晶体之间的距离和测量腔的两个SPDC晶体之间的最近距离不同；量子光源发出的一束纠缠光或压缩光入射到第一个SPDC晶体上时，第一个SPDC晶体将一束纠缠光或压缩光转换为下转换光子，下转换光子包括一束信号光与一束闲频光；进而一束信号光与一束闲频光将被注入到第二个SPDC晶体中，转换为两束信号光与两束闲频光，来自两个SPDC晶体的下转换光子产生干涉并获得干涉图样； 步骤二，从参考腔与测量腔出射的激光分别经过滤光，滤除泵浦光后进行聚焦，再分别入射到分光镜，经过分光镜的激光分为透射光和反射光，两束透射光由CCD相机进行探测接收，分析其干涉图样获得待测气体浓度值；两束反射光由频率计探测接收，通过分析真空气室充入待测气体前后的双腔拍频获得待测气体折射率数值。

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