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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119200144B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411248820.2，技术领域涉及：G02B13/00；该发明授权一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统是由庞志海;贺天兵设计研发完成，并于2024-09-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统，解决了焦面预置后光学系统在地面常压测试时，需要频繁地将预置的最佳焦面位置调整为常压位置，工作繁琐，导致非常耗时的问题。本发明利用光学系统工作温度变化引入的离焦量与真空导致的离焦量相互补偿，使得常温、常压下的光学系统最佳焦面位置与真空在轨工作时的最佳焦面位置相同，从而解决现有光学系统在轨使用时需要真空预置焦面的问题，同时，在轨光学载荷工作温度低于室温时，可减小卫星保持光学载荷系统工作温度所需功耗。

本发明授权一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统在权利要求书中公布了：1.一种无需真空预置焦面的空间碎片探测光学系统，其特征在于： 由光轴位于同一直线上且由物面至像面依次设置的第一正透镜1、第一负透镜2、第二正透镜3、第三正透镜4、第四正透镜5和第二负透镜6构成； 所述第一正透镜1的后表面中心距离第一负透镜2的前表面中心11mm～20mm；所述第一正透镜1的材料为SILICA，中心厚度为7mm～13mm，焦距f1满足：1.3ff11.58f，前后表面的曲率半径R1、R2分别满足：0.95fR11.37f和-1.65fR21.5f；其中f为光学系统焦距； 所述第一负透镜2的后表面中心距离第二正透镜3的前表面中心0.2mm～4mm；所述第一负透镜2的材料折射率为1.74～1.76，中心厚度为3.5mm～6mm，阿贝数为25～30，焦距f2满足：-1.65ff2-1.48f，前后表面的曲率半径R3、R4分别满足：-1.19fR3-0.79f和-7fR4-5f； 所述第二正透镜3的后表面中心距离第三正透镜4的前表面中心40mm～78mm；所述第二正透镜3的材料折射率为1.48～1.5，中心厚度为6mm～10mm，阿贝数为78～85，焦距f3满足：1.25ff31.78f，前后表面的曲率半径R5、R6分别满足：0.5fR50.85f和-60fR6-40f； 所述第三正透镜4的后表面中心距离第四正透镜5的前表面中心0.3mm～6mm；所述第三正透镜4的材料折射率为1.68～1.72，中心厚度为4mm～8mm，阿贝数为53～57，焦距f4满足：0.6ff41.4f，前后表面的曲率半径R7、R8分别满足：0.45fR70.9f和20fR840f； 所述第四正透镜5的后表面中心距离第二负透镜6的前表面中心1mm～8mm；所述第四正透镜5的材料折射率为1.73～1.75，中心厚度为3mm～9mm，阿贝数为42～45，焦距f5满足：0.78ff51.19f，前后表面的曲率半径R9、R10分别满足：0.35fR90.75f和1.05fR102f； 所述第二负透镜6的后表面中距离像面3mm～10mm；所述第二负透镜6的材料折射率为1.73～1.78，中心厚度为3mm～8mm，阿贝数为25～30，焦距f6满足：-0.45ff6-0.25f，前后表面的曲率半径R11、R12分别满足：-1.3fR11-0.7f和0.15fR120.72f。

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