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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119354503B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411910028.9，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法是由马博伦;陈钦芳;王虎;薛要克;马占鹏;闫昊昱;刘佳文设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学系统领域，具体涉及一种基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法。主要解决现有杂散光测量系统难以有效区分目标信号和背景噪声，在处理微弱信号和高背景噪声时仍存在局限性的技术问题。该方法所采用的系统包括激光光源、分光棱镜、光延迟器、光阑、准直扩束模块、转台模块、时间分辨探测模块、光电探测器和数据采集处理模块。本发明能够有效减少环境光和其他干扰因素的影响，在高背景噪声环境中，仍能准确检测目标信号，显著提高系统的抗干扰能力，确保测量的稳定性和可靠性。

本发明授权基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量方法，采用基于时间通道筛选的空间光学系统杂散光测量系统，该系统包括激光光源1、分光棱镜2、光延迟器3、光阑4、准直扩束模块6、转台模块7、时间分辨探测模块8、光电探测器9和数据采集处理模块；所述分光棱镜2设置在激光光源1的出射光路上；所述光延迟器3和光阑4依次设置在分光棱镜2的透射光路上；所述准直扩束模块6用于对延迟后的激光进行准直扩束，其入光口设置在光阑4的出射光路上；待测空间光学系统01的入瞳处设置在准直扩束模块6的出射光路上，所述时间分辨探测模块8的探测端设置在待测空间光学系统01的像面处；所述时间分辨探测模块8和待测空间光学系统01分别设置在转台模块7上，所述转台模块7用于调节待测空间光学系统01入瞳处与准直扩束模块6出射光路之间的相对夹角，实现不同离轴角度的测量；所述光电探测器9设置在分光棱镜2的反射光路上，且光电探测器9的输出端与时间分辨探测模块8的外触发端电连接；所述数据采集处理模块与时间分辨探测模块8电连接； 时间分辨探测模块8采用IsCMOS像增强相机，利用高速时间门控电路，在极短的时间窗口内选择性捕捉特定时间点的光信号；再通过光电阴极将单光子转换为电子信号，经过微通道板倍增，在CMOS图像传感器上实现高时间分辨率的光子计数； 其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、未安装待测空间光学系统01时，启动激光光源1，通过分光棱镜2将其出射的激光光束分为反射光和透射光，并将反射光引导至光电探测器9，将透射光依次经光延迟器3、光阑4和准直扩束模块6引导至时间分辨探测模块8； 步骤2、通过转台模块7调节时间分辨探测模块8的入射光路与准直扩束模块6的出射光路为平行状态，将该状态作为初始状态； 步骤3、通过光电探测器9对反射光进行光电探测，获取电信号，并将其发送至时间分辨探测模块8的外触发端，触发时间分辨探测模块8开始进行探测； 步骤4、通过时间分辨探测模块8探测初始状态下准直扩束模块6输出的光信号，获取初始状态下的光子数，将其作为待测空间光学系统01入瞳处光子数； 步骤5、安装待测空间光学系统01至转台模块7上，并使得待测空间光学系统01的入瞳处位于准直扩束模块6的输出光路上，像面处位于时间分辨探测模块8的探测端；按照步骤3至步骤4同样的方式获取初始状态下的光子数，即第0预设夹角下的光子数，将其作为待测空间光学系统01像面处的第0光子数； 步骤6、通过转台模块7调节待测空间光学系统01入瞳处的轴向与准直扩束模块6的出射光路之间具有第1预设夹角；按照步骤3至步骤4同样的方式获取第1预设夹角下的光子数，将其作为待测空间光学系统01像面处的第1光子数； 通过转台模块7调节待测空间光学系统01入瞳处的轴向与准直扩束模块6的出射光路之间具有第2预设夹角；按照步骤3至步骤4同样的方式获取第2预设夹角下的光子数，将其作为待测空间光学系统01像面处的第2光子数； 依此类推，通过转台模块7调节待测空间光学系统01入瞳处的轴向与准直扩束模块6的出射光路之间具有第X预设夹角；按照步骤3至步骤4同样的方式，获取第X预设夹角下的光子数，将其作为待测空间光学系统01像面处的第X光子数；X≥2； 步骤7、通过数据采集处理模块对获取到的所有光子数进行预处理，剔除异常值和噪声，然后根据设定的时间通道筛选光子数，再根据筛选后入瞳处光子数与不同预设夹角下的筛选后像面处光子数获取各自的光子数密度，最后根据入瞳处光子数密度和不同预设夹角下的像面处光子数密度，获取不同离轴角度下的点源透过率值； 所述数据采集处理模块根据像面处光子数密度和入瞳处光子数密度通过如下公式计算得到点源透过率值PSTθ： 式中：Edθ和Ei分别为像面处光子数密度和入瞳处光子数密度；Edθ＝NdθAdθ；Ei＝NiAi；Ndθ为像面处光子数；Adθ为像面处面积；Ni为入瞳处光子数；Ai为入瞳处面积；θ为离轴角度； 步骤8、将不同离轴角度下的点源透过率值与对应的标准值进行对比，判断对应两者之间的差值是否在设定范围内，验证测量的准确性，完成空间光学系统杂散光测量。

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