中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))叶志鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119437650B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411379675.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法是由叶志鹏;张楚琦;赵常均;周祁杰;朱孟孟;雷柏茂;李骞;孙立军;张奕志;李常胜设计研发完成，并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法，全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括安装夹具、控温装置、激光器和位置探测器，控温装置包括箱体和控温单元，安装夹具位于箱体内，通过安装夹具将扫描振镜组件固定于箱体内，控制单元对箱体内进行加热控温，从而实现对扫描振镜组件所处的温度环境进行调整，进而配合激光器和位置探测器检测扫描振镜组件的耐环境适应能力，从而保证扫描振镜组件的产品质量。
本发明授权全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置及试验方法在权利要求书中公布了：1.全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置，其特征在于，所述全局控温的激光扫描振镜寿命试验装置包括： 安装夹具，所述安装夹具用于固定扫描振镜组件，所述扫描振镜组件包括镜片； 控温装置，所述控温装置包括箱体和控温单元，所述控温单元用于对所述箱体内的温度进行调节，所述箱体用于容纳所述安装夹具和所述扫描振镜组件，所述箱体开设有透光孔； 激光器，所述激光器位于所述箱体外，所述激光器能够对所述扫描振镜组件发射激光，所述激光能够穿过所述透光孔到达所述镜片上； 位置探测器，所述位置探测器位于所述箱体外，所述镜片能够反射所述激光，以使所述激光穿过所述透光孔到达所述位置探测器。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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