买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉清华大学深圳国际研究生院申请的专利电缆的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119534463B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411814062.6，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权电缆的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机程序产品是由梅红伟;蒋卓君设计研发完成，并于2024-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本电缆的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机程序产品在说明书摘要公布了：本申请适用于缺陷检测领域，提供一种电缆的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机程序产品，其中方法包括：确定位于电缆的铠装层表面的至少一个目标检测点的检测点坐标；基于电缆参数、检测波发射设备参数以及每一所述目标检测点的所述检测点坐标，计算每一所述目标检测点所对应的待发射的检测波的入射坐标和入射角度；基于每一所述目标检测点对应的所述入射坐标和所述入射角度发射检测波，得到每一所述目标检测点的目标反射回波；基于所述目标反射回波，确定所述铠装层表面的各个所述目标检测点的缺陷检测结果。该方案提高了反射回波的可接收性和电缆的缺陷检测效率。

本发明授权电缆的缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机程序产品在权利要求书中公布了：1.一种电缆的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 确定位于电缆的铠装层表面的至少一个目标检测点的检测点坐标； 基于电缆参数、检测波发射设备参数以及每一所述目标检测点的所述检测点坐标，计算每一所述目标检测点所对应的待发射的检测波的入射坐标和入射角度； 基于每一所述目标检测点对应的所述入射坐标和所述入射角度发射检测波，得到每一所述目标检测点的目标反射回波； 基于所述目标反射回波，确定所述铠装层表面的各个所述目标检测点的缺陷检测结果； 所述电缆参数包括所述铠装层的第一形状函数以及电缆的外被层的第二形状函数，所述确定位于电缆的铠装层表面的至少一个目标检测点的检测点坐标之前，还包括：以所述电缆的轴向中心线作为第一坐标轴，以所述电缆的设定径向线作为第二坐标轴，构建参考坐标系，得到参考二维平面；所述目标检测点在所述参考二维平面内或所述参考二维平面外；基于所述参考坐标系、所述铠装层表面的波峰和波谷处的外径以及相邻两个波峰波谷的距离，确定所述铠装层的所述第一形状函数，所述第一形状函数为；基于所述参考坐标系、所述外被层表面的波峰和波谷处的外径以及所述相邻两个波峰波谷的距离，确定所述外被层的所述第二形状函数，所述第二形状函数为；其中，和分别为所述铠装层和所述外被层的表面形状函数，和分别为所述铠装层表面波峰、波谷处的外径，和分别为所述外被层表面波峰、波谷处的外径，D为相邻两个波峰波谷的距离； 所述确定位于电缆的铠装层表面的至少一个目标检测点的检测点坐标，包括：获取每一所述目标检测点的第一坐标值和目标旋转角；所述第一坐标值为所述目标检测点在所述第一坐标轴上的坐标值，所述目标旋转角为所述目标检测点和所述第一坐标轴构成的目标二维平面与所述参考二维平面沿设定旋转方向的平面夹角；基于所述第一形状函数及每一所述目标检测点的所述第一坐标值，计算得到每一所述目标检测点的第二坐标值；每一所述目标检测点的所述第一坐标值、所述第二坐标值和所述目标旋转角构成所述目标检测点的所述检测点坐标； 所述外被层表面存在与所述目标检测点一一对应的检测关联点，每一所述目标检测点和相对应的所述检测关联点所构成的检测关联线段与所述目标检测点处的切线垂直，所述电缆参数包括外被层折射率，所述检测波发射设备参数包括发射透镜焦距； 所述基于电缆参数、检测波发射设备参数以及每一所述目标检测点的所述检测点坐标，计算每一所述目标检测点所对应的待发射的检测波的入射坐标和入射角度，包括：基于每一所述目标检测点的所述检测点坐标和所述第一形状函数，计算得到所述检测关联线段的第三形状函数，每一所述目标检测点对应的所述入射坐标、所述检测点坐标和所述检测关联点的坐标均位于同一所述目标二维平面，在计算时，省略掉目标旋转角，仅体现x值和y值，所述第三形状函数为，其中，所述目标检测点为点P，点P坐标为xp,f1xp，所述检测关联点为点Q，点Q坐标为xq,f2xq；基于所述第二形状函数和所述第三形状函数进行相交点计算，得到所述检测关联点的第三坐标值和第四坐标值，所述第三坐标值、所述第四坐标值和所述目标旋转角构成所述检测关联点的坐标；计算所述第一形状函数在所述目标检测点的第一导数，及所述第二形状函数在所述检测关联点的第二导数；基于所述检测点坐标、所述检测关联点的坐标、所述第一导数、所述第二导数、所述外被层折射率以及所述发射透镜焦距，计算得到所述目标检测点所对应的待发射的检测波的所述入射坐标和所述入射角度；计算具体包括：，，，其中，为所述发射透镜焦距，为出射介质外被层与入射介质空气的相对折射率，所述入射坐标为xs,ys，所述入射角度为。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人清华大学深圳国际研究生院，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。