中国科学院长春光学精密机械与物理研究所杜一民获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119962283B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411906002.7,技术领域涉及:G06F30/23;该发明授权基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法是由杜一民;白晓泉;鹿芝荣;许博谦;高雁;匡也;王帅会;张春悦;姜凤义设计研发完成,并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法在说明书摘要公布了:本发明涉及空间相机反射镜分析领域,尤其涉及一种基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法,包括:在反射镜有限元模型中创建节点集;提取反射镜光学表面上的节点坐标;建立基准坐标系,构建光学表面节点基准坐标转换函数;对光学表面节点基准坐标、节点基准位移进行归一化处理;构建光学表面Zernike系数求解函数;创建光学表面Zernike系数的MPC单元;构建Zernike拟合残差RMS值求解函数;将MPC单元、Zernike拟合残差RMS值求解函数导入到反射镜有限元模型中计算得到反射镜面形的Zernike系数和Zernike拟合残差的RMS值。本发明提高了空间相机反射镜优化设计效率。
本发明授权基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法在权利要求书中公布了:1.一种基于MPC单元的反射镜面形Zernike系数求解与残差分析方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:在反射镜有限元模型中创建节点集; S2:提取位于反射镜光学表面上所有节点的节点编号,并提取节点编号对应的节点位于全局坐标系的空间坐标; S3:以光轴为s轴,以反射镜光学表面与光轴的交点为原点,建立用于表征反射镜光学表面的基准坐标系,构建反射镜光学表面节点基准坐标转换函数,将反射镜光学表面节点位于全局坐标系的空间坐标转换到该基准坐标系下,获得反射镜光学表面节点的基准坐标和节点基准位移; S4:对反射镜光学表面节点的基准坐标和节点基准位移进行归一化处理,得到反射镜光学表面节点的归一化柱坐标和归一化矢高位移; S5:采用最小二乘法对反射镜光学表面进行Zernike拟合获得Zernike多项式,将反射镜光学表面节点的归一化柱坐标和归一化矢高位移代入Zernike多项式构建反射镜光学表面Zernike系数求解函数; S6:基于反射镜光学表面Zernike系数求解函数创建关于节点集的用于表征反射镜光学表面Zernike系数的MPC单元; S7:基于反射镜光学表面Zernike系数求解函数构建用于表征反射镜光学表面面形的Zernike拟合残差RMS值求解函数; S8:将MPC单元、Zernike拟合残差RMS值求解函数导入到反射镜有限元模型中,利用有限元求解器计算得到反射镜光学表面面形的Zernike系数和Zernike拟合残差的RMS值。
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