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龙图腾网获悉深圳市微源半导体股份有限公司申请的专利测试模式控制电路、方法及芯片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120652267B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511106112.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试模式控制电路、方法及芯片是由袁涛;聂丹设计研发完成，并于2025-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试模式控制电路、方法及芯片在说明书摘要公布了：本申请属于芯片测试领域，提供了一种测试模式控制电路、方法及芯片。电路包括数据时钟鉴宽模块、数据时序产生模块和测试控制模块，数据时序产生模块分别与数据时钟鉴宽模块和测试控制模块连接。数据时钟鉴宽模块通过芯片的一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，对测试模式数据和时钟单线信号进行处理，得到第一信号；数据时序产生模块通过芯片的一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，根据测试模式数据和时钟单线信号对第一信号进行处理，得到第二信号；测试控制模块对第二信号进行检测，若第二信号与预设信号匹配，表征芯片进入测试模式。本申请通过单线传输技术，仅复用芯片的一个输入输出引脚便可使芯片进入测试模式。

本发明授权测试模式控制电路、方法及芯片在权利要求书中公布了：1.一种测试模式控制电路，其特征在于，包括数据时钟鉴宽模块、数据时序产生模块和测试控制模块，所述数据时序产生模块分别与所述数据时钟鉴宽模块和所述测试控制模块连接； 所述数据时钟鉴宽模块用于通过芯片的一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，并对所述测试模式数据和时钟单线信号进行处理，得到第一信号；所述数据时序产生模块用于通过芯片的所述一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，根据所述测试模式数据和时钟单线信号对所述第一信号进行处理，得到第二信号；所述测试控制模块用于对所述第二信号进行检测，若所述第二信号与预设信号匹配，表征所述芯片进入测试模式； 所述测试模式控制电路还包括信号选通模块，所述测试控制模块与所述信号选通模块连接，所述测试控制模块和所述信号选通模块分别用于与多个待测电路连接； 在所述芯片进入测试模式后，所述数据时钟鉴宽模块还用于通过芯片的所述一个输入输出引脚接收测试数据和时钟单线信号，并对所述测试数据和时钟单线信号进行处理，得到多个第三信号；所述数据时序产生模块还用于通过芯片的所述一个输入输出引脚接收测试数据和时钟单线信号，并根据所述测试数据和时钟单线信号对多个第三信号依次进行处理，得到多个第四信号；所述测试控制模块还用于根据多个第四信号生成使能信号和选通信号，所述使能信号用于控制所有待测电路工作，所述选通信号用于控制多个待测电路依次输出待测信号；所述信号选通模块用于根据所述使能信号和所述选通信号将多个待测信号依次输出； 所述数据时钟鉴宽模块包括信号边沿检测单元、脉宽测量单元和脉宽阈值判断单元，所述脉宽测量单元分别与所述信号边沿检测单元和所述脉宽阈值判断单元连接，所述脉宽阈值判断单元与所述数据时序产生模块连接； 所述信号边沿检测单元用于通过芯片的所述一个输入输出引脚接收输入信号，对所述输入信号的上升沿和下降沿进行检测，在检测到所述输入信号的每个上升沿时输出第一检测信号，在检测到所述输入信号的每个下降沿时输出第二检测信号；所述脉宽测量单元用于根据每个所述第一检测信号依次开始计数，并根据对应的每个所述第二检测信号停止计数，得到多个脉冲宽度数值；所述脉宽阈值判断单元用于对每个所述脉冲宽度数值进行判断，在所述脉冲宽度数值大于第一阈值时，输出“1”，在所述脉冲宽度数值小于第二阈值时，输出“0”； 所述数据时序产生模块包括多个D触发器，每个所述D触发器的时钟输入端均通过芯片的所述一个输入输出引脚接收输入信号，每个所述D触发器的反相输出端分别与所述测试控制模块连接，第一个所述D触发器的数据输入端与所述数据时钟鉴宽模块连接，每个所述D触发器的正相输出端分别与下一个所述D触发器的数据输入端和所述测试控制模块连接，其中，所述输入信号为测试模式数据和时钟单线信号或测试数据和时钟单线信号。

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