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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利存储控制设备的测试方法及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120743606B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511220297.7，技术领域涉及：G06F11/07；该发明授权存储控制设备的测试方法及电子设备是由李超设计研发完成，并于2025-08-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储控制设备的测试方法及电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供了一种存储控制设备的测试方法及电子设备，可以应用于计算机技术领域。该测试方法包括：对待测存储控制设备挂载的第一目标存储设备执行物理层状态管理操作，并基于待测存储控制设备针对第一目标存储设备的响应状况的响应操作，得到第一注错测试结果；对待测存储控制设备挂载的第二目标存储设备执行输入输出不响应故障注入操作，并基于待测存储控制设备针对第二目标存储设备的响应操作，得到第二注错测试结果；对待测存储控制设备挂载的第三目标存储设备执行离线和删除操作，并基于待测存储控制设备针对第三目标存储设备的响应操作，得到第三注错测试结果，从而生成针对待测存储控制设备的错误处理机制的测试结果。

本发明授权存储控制设备的测试方法及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种存储控制设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括： 对待测存储控制设备挂载的第一目标存储设备执行物理层状态管理操作，并基于所述待测存储控制设备针对所述第一目标存储设备的响应状况的响应操作，得到所述待测存储控制设备针对链路异常的第一注错测试结果；其中，所述第一目标存储设备的响应状况表征所述第一目标存储设备针对所述待测存储控制设备发送的输入输出请求的响应状况； 其中，所述对待测存储控制设备挂载的第一目标存储设备执行物理层状态管理操作，包括依次执行以下操作：对所述第一目标存储设备执行物理层错误操作；对所述第一目标存储设备执行物理层复位操作；对所述第一目标存储设备执行物理层断开操作；对所述第一目标存储设备执行物理层连接操作； 对所述待测存储控制设备挂载的第二目标存储设备执行输入输出不响应故障注入操作，并基于所述待测存储控制设备针对所述第二目标存储设备的响应状况的响应操作，得到所述待测存储控制设备针对输入输出不响应的第二注错测试结果； 对所述待测存储控制设备挂载的第三目标存储设备执行离线和删除操作，并基于所述待测存储控制设备针对所述第三目标存储设备的响应状况的响应操作，得到所述待测存储控制设备针对离线盘的第三注错测试结果； 基于所述第一注错测试结果、所述第二注错测试结果和所述第三注错测试结果，生成针对所述待测存储控制设备的错误处理机制的测试结果。

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