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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利基于动态双阈值模板的缺陷检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120765655B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511281005.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于动态双阈值模板的缺陷检测方法、装置及存储介质是由唐卫卫;杨硕设计研发完成，并于2025-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于动态双阈值模板的缺陷检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了基于动态双阈值模板的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高显示屏拍摄图像的缺陷检测精度。采集目标型号显示屏的若干批次的无缺陷样本图像。统计若干批次的无缺陷样本图像上每一个像素点的灰度极值边界数据；根据灰度极值边界数据生成下限标准模板和上限标准模板。获取区域差异放大系数和补偿偏移量。通过区域差异放大系数和补偿偏移量对下限标准模板和上限标准模板生成动态检测阈值模板。获取目标型号显示屏的待测屏体图像。将待测屏体图像与动态检测阈值模板进行像素级差分，生成缺陷掩膜图像。通过缺陷掩膜图像进行显示屏的缺陷检测，生成第一缺陷检测结果。

本发明授权基于动态双阈值模板的缺陷检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于动态双阈值模板的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 采集目标型号显示屏的若干批次的无缺陷样本图像； 统计所述若干批次的无缺陷样本图像上每一个像素点的灰度极值边界数据； 根据所述灰度极值边界数据生成下限标准模板和上限标准模板； 获取区域差异放大系数和补偿偏移量； 所述获取区域差异放大系数和补偿偏移量的步骤包括：确定每一张无缺陷样本图像对应的量子点电致发光显示屏的径向厚度分布，所述目标型号显示屏为量子点电致发光显示屏；根据所述径向厚度分布将每一张无缺陷样本图像分为高厚度区域和低厚度区域，所述高厚度区域为径向厚度高于参考厚度范围的上限的区域，所述低厚度区域为径向厚度高于参考厚度范围上限的区域；根据所述高厚度区域的灰度数据、灰度梯度数据和薄膜反射率数据计算上限区域差异放大系数和上限补偿偏移量；根据所述低厚度区域的灰度数据、灰度梯度数据和薄膜反射率数据计算下限区域差异放大系数和下限补偿偏移量；将每一张无缺陷样本图像对应的上限区域差异放大系数、上限补偿偏移量、下限区域差异放大系数和下限补偿偏移量进行平均化处理； 通过所述区域差异放大系数和所述补偿偏移量对所述下限标准模板和所述上限标准模板生成动态检测阈值模板，所述区域差异放大系数包括上限区域差异放大系数和下限区域差异放大系数，所述补偿偏移量包括上限补偿偏移量和下限补偿偏移量，动态检测阈值模板包括亮缺陷动态检测阈值模板和暗缺陷动态检测阈值模板； 所述通过所述区域差异放大系数和所述补偿偏移量对所述下限标准模板和所述上限标准模板生成动态检测阈值模板的步骤包括：通过上限区域差异放大系数、上限补偿偏移量、所述下限标准模板和所述上限标准模板生成亮缺陷动态检测阈值模板；通过下限区域差异放大系数、下限补偿偏移量、所述下限标准模板和所述上限标准模板生成暗缺陷动态检测阈值模板； 获取所述目标型号显示屏的待测屏体图像； 将所述待测屏体图像与所述动态检测阈值模板进行像素级差分，生成缺陷掩膜图像； 通过所述缺陷掩膜图像进行显示屏的缺陷检测，生成第一缺陷检测结果。

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