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龙图腾网获悉深圳市立德通讯器材有限公司申请的专利一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120781267B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511287344.X，技术领域涉及：G06F18/2433；该发明授权一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法、装置及存储介质是由何武宜;张木平;胡铁柱设计研发完成，并于2025-09-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法、装置及存储介质。本申请方法包括：将待测屏体划分为微单元并采集其光学反射信号；对微单元施加受控变形应力并采集应力下的光学信号；基于响应特性计算局部响应曲线并提取幅值变化、斜率、峰值及非线性波动等特征参数；将特征参数与健康区域基准比较，生成第一缺陷敏感性参数及缺陷类型；结合邻域微单元的特征参数进行一致性分析，得到第二缺陷敏感性参数；将微单元厚度、界面特性及第二缺陷敏感性输入预配置的局部WVTR模型，计算局部WVTR值；最终结合第二缺陷敏感性参数生成并输出缺陷数据。本方法通过应力响应和邻域一致性分析，结合局部WVTR模型，实现微单元级缺陷精准识别。

本发明授权一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种柔性OLED屏的屏体缺陷的检测方法，其特征在于，所述方法包括： 对待测的柔性OLEDTFE屏体构建网格化的微单元，并获得每个微单元的第一光学反射信号； 对每个微单元施加受控变形应力，并采集在应力下的第二光学反射信号； 对所采集的第一光学反射信号和所述第二光学反射信号进行处理，生成反映各个微单元的结构特性的响应特性集合； 根据所述响应特性集合，计算每个微单元的局部响应曲线，并基于所述局部响应曲线提取特征参数，所述特征参数至少包括幅值变化、斜率、峰值和非线性波动； 将所述特征参数与预先获得的健康区域基准进行比较，并基于比较结果，结合所述幅值变化、斜率、峰值和非线性波动输出第一缺陷敏感性参数以及缺陷类型； 针对每个微单元获取邻域内相邻微单元的第一缺陷敏感性参数，并对所述相邻微单元的特征参数进行聚合分析，生成邻域特征统计数据； 根据所述邻域特征统计数据计算每个微单元与邻域响应的一致性指标，并基于所述一致性指标与所述第一缺陷敏感性参数，生成第二缺陷敏感性参数； 将所述微单元的厚度、界面特性及所述第二缺陷敏感性参数输入预配置的局部WVTR模型，并计算得到每个微单元的局部WVTR值； 将所述局部WVTR值与所述第二缺陷敏感性参数结合，生成并输出缺陷数据。

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