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龙图腾网获悉上海帆声图像科技有限公司申请的专利一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120820564B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511239792.2，技术领域涉及：G01N21/958；该发明授权一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统是由刘锴锋;王斌;郑子谅设计研发完成，并于2025-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统，属于光学检测技术领域。该系统包括相机、反射光源、分光镜、背透光源和处理单元。检测方法包括首次测量、产品翻转、再次测量以及缺陷综合分析与分类。通过反射式测量获取产品表面的深度图和调制度图，通过透射式零基准面差分测量获取相位差图和背光调制度图，融合多维度数据并依据预设逻辑实现对凹凸点、异物、划伤等缺陷的精准检测和分类。本发明能有效消除系统固有误差，实现双面全检无遗漏，检测精度高，缺陷分类准确，适用于多层透明玻璃等透明件的缺陷检测。

本发明授权一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1：启动反射光源，对被测产品的A面进行反射式相位偏折测量，相机采集反射条纹图像，处理单元根据采集的反射条纹图像，计算出反映A面三维形貌的深度图以及反映条纹对比度的反射调制度图；同时启动背透光源，背透光源投射多频相移条纹光穿透被测产品，相机采集透射条纹图像，进行零基准面差分测量，即先采集无样品时的参考相位图，再采集有样品时的测量相位图，得到相位差图，同时处理单元根据透射条纹图像计算出背光调制度图； 步骤S2：在完成首次测量后，将被测产品进行翻转，使其B面朝向相机； 步骤S3：重复步骤S1中对A面的反射式相位偏折测量步骤，对产品的B面进行反射式相位偏折测量，相机采集反射条纹图像，处理单元根据采集的反射条纹图像，得到B面的深度图和反射调制度图； 步骤S4：处理单元融合上述所有测量数据，依据预设逻辑对缺陷进行识别和分类； 所述相机设置于被测产品正上方；通过反射光源用于投射多频相移条纹光；通过分光镜设置于相机与被测产品之间，可将反射光源投射的条纹光反射至被测产品的上表面；所述背透光源设置于被测产品正下方，为可编程的屏幕；所述处理单元与相机、反射光源及背透光源电性连接，用于控制反射光源与背透光源投射时序、处理相机采集的图像并执行缺陷检测算法。

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